用于校准具有CCD阵列的分光仪的方法技术

本发明专利技术涉及一种用于对由CCD阵列（2）所构造的分光仪（1）进行校准的方法，其中通过所述CCD阵列来记录来自两个特殊试样（P1，P2）的至少两个光谱，其用作校准样本并且这样实施，使得其分别这样调谐在校准样本中的参考物质，使得对于校准样本中的一个给出待检查的光的靠近外部表面的射出，对此这样实施另一个校准样本，使得待检查的光从更深处、与此不同的深度中辐射出，其中，依据在此所记录的原始数据来生成描述在此出现的标准化效应的函数，并且其中，将该函数作为用于来自容积辐射体的测量的校正函数（K）存储在分光仪中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于采集来自活组织的测量信号、尤其用于确定体液的物质组成以及必要时仅临时与血管相关的物质的物质组成的一种方法和一种测量装置。
技术介绍
公知如下测量方法，在该测量方法中，通过在相应的组织区域上放置移动式的分光仪并且通过该移动式的分光仪来记录从组织中射出的反射光，来完成对临时与血管相关的物质的分析。依据这样记录的光谱可以最大不同地获知在检查的组织区域中存在的物质。该分光仪可以被构造为经典的分光仪，其中通过光学措施来完成入射光的分解并且在按照波长分类的情况下测量所分解的光的强度。为了避开可移动部分，可以这样构造分光仪，使得将按照其波长所分解的光引导至CCD阵列并且通过所述CCD阵列进行分析。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是，提出一种解决方案，通过所述解决方案能够在光谱测定的测量过程中在使用CCD阵列的情况下生成测量值，所述测量值的特征在于特别高的有效力。按照本专利技术，上述技术问题通过一种用于对由CXD阵列所构造的分光仪进行校准的方法来解决，其中通过CCD阵列来记录第一校准光谱和第二校准光谱，其中为了生成这些校准光谱而对参考结构进行照明，所述参考结构关于由在各个参本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.04.09 DE 102010014593.91.一种用于对由CXD阵列所构造的分光仪进行校准的方法，其中通过所述CXD阵列来记录第一校准光谱和第二校准光谱，其中，为了生成这些校准光谱而对参考结构进行照明，所述参考结构关于由其射出的光的出射深度明显不同。2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，由这两个校准光谱来确定校正系统，通过所述校正系统来对分别应用的CCD阵列的记录信号各自进行标准化。3.按照权利要求2所述的方法，其特征在于，将所述校正系统作为特性曲线族或者参数化的校正函数存储在相应的分光仪的控制单元中。4.按照权利要求3所述的方法，其特征在于，针对特定的物质生成多个校正系统。5.按照权利要求1至4中至少一项...

【专利技术属性】
技术研发人员：H琼曼，M希特泽尔，
申请(专利权)人：MBR光学系统两合公司，
类型：
国别省市：