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本发明涉及一种用于对由CCD阵列（2）所构造的分光仪（1）进行校准的方法，其中通过所述CCD阵列来记录来自两个特殊试样（P1，P2）的至少两个光谱，其用作校准样本并且这样实施，使得其分别这样调谐在校准样本中的参考物质，使得对于校准样本中的一...
该专利属于MBR光学系统两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过MBR光学系统两合公司授权不得商用。

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