【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置，具体涉及对其结构的改进。
技术介绍
为了将对纳米材料和制品力学性能的测量和微观形貌的检测进行有机结合，原子力显微镜(AFM)等微纳米观察仪器要与一些力学测试装置配合使用，从而可以深入地探索各类纳米材料及制品的微观损伤断裂行为和机理，及其与载荷作用、材料结构和性能间的相关性规律。现有一种跨尺度微纳米级原位拉伸力学性能测试装置，这种装置存在以下局限性:对被测试样尺寸结构限制严格；最大应变量不能满足高应变率材料，另外由于这些装置都较为复杂，包含力传感器、步进电机等等，因而制作费用较高，不能满足于广大普通原子力显微镜用户需求。
技术实现思路
为了克服现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种简易的原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置。一种原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置，其特征在于，一基座设置有内凹槽，基座前部凹槽两侧设置有导轨；基座后端设置有螺纹孔，推进螺杆与螺纹孔螺纹连接； 推进螺杆穿过右夹具中心孔顶在左夹具上；右夹具固定在基座的后部分凹槽内；左夹具位于导轨上，与导轨滑动连接； 所述左夹具由盖板和底板组成；右夹具由盖板和底板组成；所述左夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接；所述右夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接。本专利技术解决了对被测试样尺寸结构限制严格的问题，能够应用于高应变率材料，另外降低了制作费用，能满足于广大普通原子力显微镜用户需求。附图说明附图1是本专利技术立体结构示意图。附图2是图1的侧视图。附图3是轨道结构剖视图。I基座、11长形通槽、12长形通槽、13螺纹孔、14刻度、15凹槽、 2导轨、 3左夹具、...
【技术保护点】
一种原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置，其特征在于，一基座设置有内凹槽，基座前部凹槽两侧设置有导轨；基座后端设置有螺纹孔，推进螺杆与螺纹孔螺纹连接； 推进螺杆穿过右夹具中心孔顶在左夹具上；右夹具固定在基座的后部分凹槽内；左夹具位于导轨上，与导轨滑动连接；所述左夹具由盖板和底板组成；右夹具由盖板和底板组成; 所述左夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接；所述右夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接。
【技术特征摘要】
1.一种原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置，其特征在于，一基座设置有内凹槽，基座前部凹槽两侧设置有导轨；基座后端设置有螺纹孔，推进螺杆与螺纹孔螺纹连接； 推进螺杆穿过右夹具中心孔顶在左夹具上；右夹具固定在基座的后部分凹槽内；左夹具位于导轨上，与导轨滑动连接； 所述左夹具由盖板和底板组成；右夹具由盖板和底板组成；所述左夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接；所述右夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接。2.根据权利要求1所述的原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置，其特征在于，所述基座后部两侧壁上开...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟建，马梦佳，李文英，闫策，何丹农，
申请(专利权)人：上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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