一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统，被监测目标上设有多个测量参考物。该测量系统包括激光发射器、数字相机、计算机、以及通信设备。激光发射器位于离被监测目标50-100米处，并通过通信设备与计算机连接，用于在被监测目标上投射激光以生成一个测量参考点。数字相机用于对被监测目标进行拍摄，并通过通信设备与计算机连接，以将所拍摄到的照片传递到计算机以获得被监测目标的变形量。本实用新型专利技术的测量系统能够实现被监测目标微变形的高精度测量，并将摄影测量高精度测量范围由10米以内有效扩大到50-100米。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量系统，具体涉及用于远距离微变形监测的摄影测量系统。
技术介绍
近景摄影测量是摄影测量的一个分支，利用对200m以内近距离目标摄影所获取的图像来确定其形态、几何位置和大小的技术。近景摄影测量作为摄影测量的一个重要分支，近一、二十年以来获得了很大发展，在高精度三维测量以及变形监测等领域有了不少成功的经验，例如施工过程监测，滑坡监测与地表变形监测，工业检测，校核大型构件配置与安装等。随着技术的进步和发展，近景摄影测量作为测量各类物体外形和运动状态的摄影测量，已广泛应用于科学技术的各个领域，在各类工程建设中得到了广泛的应用。但要达到亚毫米级甚至微米级的测量精度，就要求相机距离目标点很近，一般在10米以内，而地质变形应用中需要将监测站(相机架设位置)架设到稳定位置或参考点部署到稳定位置，这就很可能由于相机距离监测目标太近或参考点离目标太近，出现监测站或参考点也会随之一起沉降变形，这种情况大大限制了近景摄影测量在微变形领域的应用，于是解决高精度摄影测量应用有效作业范围成为近景摄影测量技术应用于微变形监测领域的首要问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种用于测量被监测目标的微变形的能够本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统，被监测目标上设有多个测量参考物，所述摄影测量系统包括数字相机、计算机、以及通信设备，其特征在于：所述摄影测量系统还包括激光发射器，用于在被监测目标上投射激光以生成一个模拟参考点，并且所述激光发射器通过所述通信设备与所述计算机连接；以及所述数字相机用于对被监测目标进行拍摄，并通过所述通信设备与所述计算机连接，以将所拍摄到的照片传递到所述计算机以获得被监测目标的变形量。

【技术特征摘要】
1.一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统，被监测目标上设有多个测量参考物，所述摄影测量系统包括数字相机、计算机、以及通信设备，其特征在于: 所述摄影测量系统还包括激光发射器，用于在被监测目标上投射激光以生成一个模拟参考点，并且所述激光发射器通过所述通信设备与所述计算机连接；以及 所述数字相机用于对被监测目标进行拍摄，并通过所述通信设备与所述计算机连接，以将所拍摄到的照片传递到所述计算机以获得被监测目标的变形量。2.根据权利要求1所述的摄影测量系统，其特征在于:所述测量参考物是固定在...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭巍，李玮煜，周晓刚，江雷子，李先强，
申请(专利权)人：上海米度测控科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：