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本实用新型提供了一种用于远距离微变形监测的摄影测量系统，被监测目标上设有多个测量参考物。该测量系统包括激光发射器、数字相机、计算机、以及通信设备。激光发射器位于离被监测目标50-100米处，并通过通信设备与计算机连接，用于在被监测目标上投射...
该专利属于上海米度测控科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海米度测控科技有限公司授权不得商用。

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