【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种材料表面漫反射特性测量的装置，尤其是利用光纤激光和环形光电探测器阵列测量材料表面漫反射特性的装置。
技术介绍
在激光参数测量中，材料表面的漫反射特性是设计漫反射屏及积分球等衰减取样结构的重要依据。在激光辐照效应研究中，材料表面的漫反射特性测量是获得材料的激光耦合系数的重要手段，也是开展激光辐照效应实验研究的基本方法，对分析激光与物质相互作用机理具有重要意义。目前，关于材料表面漫反射特性测量，通常采用积分球法或共轭椭球法。但是这两种方法只能测量材料表面的总反射率而不是反射率在各个方向的分布。对于材料反射特性空间分布测量，通常采用的方法是将光源入射至材料表面，并通过空间移动扫描的光电探测器得到材料反射面在不同入射角度下的反射光强分布，再将待测量材料转动某个角度范围，进而得到材料在不同角度入射条件下的漫反射特性。这种方法只采用一只探测器，成本低，但由于要测量不同角度下的空间点光强分布，故测量时间长，效率低。此外对于出光中运行耗费较高、且稳定性欠佳的光源如DF电激励激光器，在移动光电探测器的过程中，光源的强度变化将影响到测量结果的准确性。虽然对光源进行分光以实时监测光强变化是一种可行的方法，但这样做会增加系统的复杂度，而且复杂的光路设计也会影响到系统的可靠性和测量结果的准确性
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种基于环形光电探测器阵列的材料表面漫反射特性测量装置，克服常规单只探测器扫描测量中存在的故测量时间长，效率低等不足，并具有结构紧凑，可靠性高、使用方便、对光源的稳定性要求不高等特点。本专利技术的技术解决方案是—种材料表面漫反射...
【技术保护点】
一种材料表面漫反射特性测量装置，其特征在于：包括准直光源（3）、旋转台（2）、圆环固定架（4）、若干只光电探测器（7）和信号记录设备（5），所述的若干只光电探测器（7）布置在圆环固定架（4）上，光电探测器（7）的光敏元正对圆环固定架（4）的圆心，起始探测器和圆环固定架（4）圆心的连线构成起始测量线，终止探测器和圆环固定架（4）圆心的连线构成终止测量线，且起始测量线和终止测量线之间的夹角为270°；所述的准直光源（3）设置在圆环固定架（4）上，出射光方向正对圆环固定架（4）的圆心，且出射光方向与起始测量线之间的夹角为90°；所述的旋转台（2）设置在圆环固定架（4）的中部，旋转台（2）转轴穿过圆环固定架（4）的圆心，并垂直于若干只光电探测器（7）构成的测量平面；所述的待测量材料（1）固定在旋转台（2）上，且待测量材料（1）的反射面穿过旋转台（2）的转轴；所述的若干只光电探测器（7）输出端与信号记录设备（5）电联接。
【技术特征摘要】
1.一种材料表面漫反射特性测量装置，其特征在于:包括准直光源(3)、旋转台(2)、圆环固定架(4)、若干只光电探测器(7)和信号记录设备(5)，所述的若干只光电探测器(7)布置在圆环固定架(4)上，光电探测器(7)的光敏元正对圆环固定架(4)的圆心，起始探测器和圆环固定架(4)圆心的连线构成起始测量线，终止探测器和圆环固定架(4)圆心的连线构成终止测量线，且起始测量线和终止测量线之间的夹角为270° ;所述的准直光源(3)设置在圆环固定架(4)上，出射光方向正对圆环固定架(4)的圆心，且出射光方向与起始测量线之间的夹角为90° ;所述的旋转台(2)设置在圆环固定架(4)的中部，旋转台(2)转轴穿过圆环固定架(4)的圆心，并垂直于若干只光电探测器(7)构成的测量平面；所述的待测量材料(I)固定在旋转台(2)上，且待测量材料(I)的反射面穿过旋转台(2)...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯刚，杨鹏翎，王振宝，陈绍武，邵碧波，冯国斌，王平，宇文璀蕾，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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