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本发明公开了一种基于环形光电探测器阵列用于测量材料表面漫反射特征的测量装置，包括准直光源、旋转台、若干只光电探测器和信号记录设备，若干只光电探测器布置在一只圆环固定架的架体上，起始测量线和终止测量线之间的夹角为270°；准直光源设置在圆环固...
该专利属于西北核技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西北核技术研究所授权不得商用。

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