用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种固体材料热扩散率测量用的低温-加热装置，其可提供-180℃～300℃的测量温度范围。该装置设有低温-加热炉、试样支架和真空罩体。所述低温-加热炉采用双层结构，外层为不锈钢环筒形液氮腔，液氮腔中心的内层装有电加热管，置于电加热管中的试样支架采用点接触式，低温-加热装置置于真空罩体中。本实用新型专利技术低温-加热装置温控速度快，结构简单，且室温以下温度仅需1小时即可稳定，室温以上温度仅需0.5小时即可稳定。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于固体材料低温到中温的热扩散率测试的低温-加热装置，具体为一种用于固体材料热扩散率测量的低温-加热两用装置。
技术介绍
工业应用中，低温技术用于气体分离、脆性粉碎、石油气分离、低温真空、远洋运输、生物冷冻保存和储运等；科学研究中，低温技术为超导物理、高能粒子物理研究、化学研究慢速反应提供强大技术支撑；航天技术中，燃料需要低温储存、航天器处于从极低温到中温的交换环境。随着温度的降低，材料物性会发生变化，比热会大幅减小，热导率和热扩散率也有大的变化。材料低温物性参数不仅是直接表征低温材料使用性能的关键技术指标，而且是低温装置和系统热设计的关键参数，低温技术的应用推动了材料低温物性的测量需求。热扩散率的测量有稳态和瞬态两大类方法，稳态测量法测量时间较长，对于低温范围，要在较长时间内维持稳定的低温很难。激光闪光瞬态方法测量时间极短，在测量时间内可维持稳定的低温温度，适合测量材料低温范围内的热扩散率。专利文献ZL200820012305. 4 (“一种用于薄膜非接触热膨胀测量的低温装置”，公开号CN 201188091Y)设计了一种用于薄膜非接触热膨胀测量的低温装置，该装置可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于固体材料热扩散率测量的低温?加热装置，该装置包括低温?加热炉、试样支架和真空罩体；所述低温?加热炉包括不锈钢环形液氮腔和插入所述环形液氮腔中的加热器；其中，所述加热器采用螺纹结构或者短肋结构，所述试样支架采用内螺纹顶杆点接触式结构。

【技术特征摘要】
1.一种用于固体材料热扩散率测量的低温-加热装置，该装置包括低温-加热炉、试样支架和真空罩体；所述低温-加热炉包括不锈钢环形液氮腔和插入所述环形液氮腔中的加热器；其中，所述加热器采用螺纹结构或者短肋结构，所述试样支架采用内螺纹顶杆点接触式结构。2.如权利要求1所述低温-加热装置，其特征在于所述不锈钢环形液氮腔外表面的保冷材料上覆盖铝箔。3.如权利要求1所述低温-加热装置，其特征在于所述加热器包括表面具有螺纹或者短肋片的陶瓷管和位于螺纹或者短肋片之间凹槽内的电加热裸丝。4.如权利要求1所述低温-加热装置，其特征在于所述加热器包括表面具有螺纹或者短肋片的不锈钢管和位于螺纹或者短肋片之间凹槽内的电加热裸丝，其中，在所述螺纹或短肋片之间的凹槽表面有陶瓷涂层。5.如权利要求1所述低温-加热装置，其特征在于所述试...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨莉萍，奚同庚，蔡岸，徐子君，钟秋，雒彩云，
申请(专利权)人：中国科学院上海硅酸盐研究所，
类型：实用新型
国别省市：