【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机
，更具体地，涉及一种进程的内存溢出测试方法、装置及设备。
技术介绍
内存泄露是指用动态存储分配函数动态开辟的空间，在使用完毕后未释放，导致该内存单元一直被占据，无法被回收。存在内存泄漏问题的程序，一般表现方式是该程序运行时间越长，占用内存越多，随着程序运行时间越来越长，就会导致内存泄露越来越严重，最后导致这个程序出现内存溢出(Out of Memory,简称00M)。如果出现00M,系统就会强制关闭此程序的进程。为了防止程序存在内存泄漏的问题，需要对程序进行测试，以发现发生内存泄露的程序以及泄露的原因，从而对该程序进行改进。然而，部分具有内存泄露缺陷的程序对应的进程在每次发生内存泄漏时泄露的内存比较小，因此，在有限的时间内，存在内存泄漏问题的进程可能不会发生00M，这使得开发人员无法快速地测试出存在内存泄漏问题的进程，导致测试失效。
技术实现思路
本专利技术实施例提出了一种进程的内存溢出测试方法、装置及设备，能够较快速地重现进程的内存溢出错误。为了达到上述目的，本专利技术实施例提出一种进程的内存溢出测试方法，包括以下步骤检测操作系统中各进...
【技术保护点】
一种进程的内存溢出测试方法，其特征在于，包括以下步骤：检测操作系统中各进程的内存使用量，将内存使用量满足预设条件的进程确定为被测试进程；调低所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间，使所述被测试进程发生内存溢出。
【技术特征摘要】
1.一种进程的内存溢出测试方法，其特征在于，包括以下步骤 检测操作系统中各进程的内存使用量，将内存使用量满足预设条件的进程确定为被测试进程； 调低所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间，使所述被测试进程发生内存溢出。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测操作系统中各进程的内存使用量，将内存使用量满足预设条件的进程确定为被测试进程，采用如下步骤 在预设时间内按照预设时间间隔获取操作系统中各进程的内存使用量； 将内存使用量呈上升趋势且上升最快的进程确定为被测试进程。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调低所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间，使所述被测试进程发生内存溢出的步骤包括 每隔预设时间段将所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间调低预设值，直到所述被测试进程发生内存溢出。4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，调低所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间是通过设置虚拟机堆空间的值来实现。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使所述被测试进程发生内存溢出之后，所述方法还包括 获取所述被测试进程发生内存溢出的出错信息； 其中，所述出错信息至少包括所述被测试进程对应的代码中导致所述被测试进程发生内存溢出的代码的位置。6.一种进程的内存溢出测试装置，其特征在于，包括 确定模块，用于检测操作系统中各进程的内存使用量，将内存使用量满足预设条件的...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪文俊，闫昊，
申请(专利权)人：北京小米科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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