【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及反射型传感器以及图像形成装置。
技术介绍
日本未审查的专利申请公开No. 2004-309292、No. 2002-162803、No. 2002-55572和No. 2011-107524公开了如下技术通过抑制来自待检测对象的漫反射光的影响使用反射型传感器来改善接收规则反射光的接收灵敏度。
技术实现思路
本专利技术旨在提供如下技术使用接收规则反射光的反射型传感器来检测图像的对准不良量,并且抑制由漫反射光和图像形成装置的坚稳性水平降低而导致的检测精度的降低。根据本专利技术的第一方面,提供一种反射型传感器包括光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量;第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制;光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制。用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约O. 5至1. 9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1. 5mm或更小。根据本专利技术的第二方面,在根据第一方面的反射型传感器中,下述两位置之间在所述区域的法线方向上的距离为大约1. Omm或更大使所述光接收器接收的光量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收 ...
【技术保护点】
一种反射型传感器,包括:光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量;第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制;光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制,其中,用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0.5至1.9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1.5mm或更小。
【技术特征摘要】
2011.10.12 JP 2011-2250881.一种反射型传感器,包括 光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量; 第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制; 光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及 第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制, 其中,用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0. 5至1. 9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1. 5mm或更小。2.根据权利要求1所述的反射型传感器,其中, 下述两位置之间在所述区域的法线方向上的距离为大约1.0mm或更大使所述光接收器接收的光量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的一者所处的位置,以及使因光被所述区域反射而产生的漫反射光的量最大时所述第二光限制部件或构造、所述光发射单元及所述光接收器中的相关联一者所处的位置。3.一种图像形成装置,包括 反射型传感器,其包括 光发射单元,其向图像形成装置中形成有多种颜色的第一检测图像的区域发射光,所述第一检测图像用于检测所述第一检测图像之间的对准不良量; 第一光限制部件或构造,其对从所述光发射单元发射的光进行限制; 光接收器,其设置在因光穿过所述第一光限制部件或构造施加在所述区域并被所述区域反射而产生的规则反射光的光路上,并且接收被所述区域反射的光并输出表示接收到的光量的信号;以及 第二光限制部件或构造,其设置在所述规则反射光的光路上并对将被所述光接收器接收的光进行限制, 其中,用所述第一光限制部件或构造的直径除以所述第二光限制部件或构造的直径所得到的值在大约0. 5至1. 9的范围内,并且所述第一光限制部件或构造的直径和所述第二光限制部件或构造的直径均为1. 5mm或更小; 图像形成单元,其形成所述第一检测图像和图像数据所表示的图像; 对准不良或偏差检测器,其基于从所述光接收器输出的所述信号来检测所述第一检测图像之间的对准不良量;以及 校正单元,其基于由所述对准不良或偏差检测器检测到的对准不良量,对将由所述图像形成单元根据图像数据形成的图像的位置进行校正。4.一种图像形成装置,包括 反射型传感器,其包括 ...
【专利技术属性】
技术研发人员:尾形健太,宇高勉,后藤理,
申请(专利权)人:富士施乐株式会社,
类型:发明
国别省市:
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