【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法。
技术介绍
锆石是自然界中最常见的副矿物，广泛存在于岩浆岩，变质岩和沉积岩中。由于其物理和化学性质极其稳定，在破坏大多数其他普通矿物的岩浆、变质与侵蚀的作用过程能保留下来，进而成为研究地质作用等重要依据。锆石中经常含有各种微量元素如，亲石元素Sc, Y,稀土元素，还有Ti, Hf, Th, U, Nb, Ta, V及P元素等。通过错石中的微量元素及错石/岩浆微量元素分配系数的测定，可以确定出锆石形成时的温度、压力及当时的岩浆的组成，进而对地壳的组成及其演化进行研究。锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量主要分为两类一类是，对自然锆石及其主岩进行微量元素含量测量进而计算出锆石微量元素组成及其分配系数。另一类是，对实验室合成锆石及其锆石周围的熔体玻璃进行微量元素的含量的测定，计算出锆石微量元素的组成及其分配系数。传统的测量方式是采用二次离子质谱仪或者是激光剥蚀等离子体质谱仪直接在锆石及主岩或熔体玻璃上进行分析。这两种分析方法虽然在电离方式上不同，但是基本上的原理都是采用一次离子源或者是激光剥蚀...
【技术保护点】
一种锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法，其特征在于，该测量方法的步骤为：第一步：用激光或一次离子束扫描样品表面获得微量元素及基底元素图像；第二步：通过获得到的微量元素的图像信息确定分析位置，偏转激光束或一次离子束到所选择的分析位置，以非扫描模式进行对锆石的微量元素的含量的测量以及对岩浆的微量元素的含量的测量。
【技术特征摘要】
1.一种锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法，其特征在于，该测量方法的步骤为 第一步用激光或一次离子束扫描样品表面获得微量元素及基底元素图像； 第二步通过获得到的微量元素的图像信息确定分析位置，偏转激光束或一次离子束到所选择的分析位置，以非扫描模式进行对锆石的微量元素的含量的测量以及对岩浆的微量元素的含量的测量。2.根据权利要求1所述的锆石微量元素及锆石/岩浆微量元素分配系数测量方法，其特征在于，所述第一步包括步骤 (1)采用激光通过激光聚焦透镜或采用一次离子源电离出的离子通过离子透镜，聚焦到样品表面上，以扫描分析模式扫描，即以激光束偏转装置或离子束偏转装置规律的偏转激光或离子束，逐行扫描轰击样品表面，其中扫描样品的区域大小以及扫描时间可调，扫描的过程中样品表面电离溅射出离子； (2)所测离子通过离子透镜从样品表面引出，离子透镜可以通过高压引出所测样品表面电离出来的带电离子，这些离子通过离子透镜后进入质谱系统，通过质谱系统后，根据离子质量数之间的差异被分离出来，这些被分离的离子被接收装置接收，由接收装置检测出的信号通过信号转换部分转换成计算机可接收的信号； (3)由所述步骤(2)得到的计算机可接收的信号，获得样品表面的二维元素图像信息，该二维元素图像信息是多个元素的图像信息即为多幅元素图像，将所得到的元素图...
【专利技术属性】
技术研发人员：郝佳龙，杨蔚，张建超，林杨挺，
申请(专利权)人：中国科学院地质与地球物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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