一种阈值可调的峰值检测电路制造技术

本发明专利技术公开了一种阈值可调的峰值检测电路。本电路通过可调基准电流经过电阻产生峰值检测的阈值电压Vpk，此阈值电压分别和差分输入电压进行比较，然后再通过共源极放大器对电容C0进行充电或放电，控制电压Vc的值，此电压Vc最后与参考电压Vref进行比较，输出峰值检测的结果Z。

【技术实现步骤摘要】
—种阈值可调的峰值检测电路
本专利技术主要涉及峰值检测电路的设计领域，特指一种阈值可调的峰值检测电路。技术背景在目前的模拟CMOS集成电路设计中，特别是射频信号接收器中，由于需要对微弱的射频信号进行量化，通常用高精度ADC将其量化成数字信号，由于射频信号的变化范围通常较大，为了射频前端信号满足ADC动态范围，通常在ADC的前端都会增加一个可编程增益放大器，其目的是根据射频信号的幅度控制其增益，使得ADC的输入落在其动态范围之内，从而降低对ADC的动态范围要求，减轻高精度ADC的设计压力；但是ADC的输入范围是有限的，可编程增益放大器的增益调整必须保证其输出不会超过ADC的最大量化范围，所以通常会有一个判断机制，即峰值检测电路，用来判断可编程增益放大器的输出是否超出 ADC量化范围，若没有超出，则可以继续增大可编程增益放大器的增益，以保证ADC达到最佳性能，反之，若超出的ADC的量化范围，则需要降低可编程增益放大器的增益，保证ADC不会产生失真。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题就在于针对现有技术存在的技术问题，提出一种阈值可调的峰值检测电路。本专利技术提出的解决方案为本电路通过可调基准电流经过电阻产生峰值检测的阈值电压Vpk，此阈值电压分别和差分输入电压进行比较，然后再通过共源极放大器对电容Ctl进行充电或放电，控制电压V。的值，此电压V。最后与参考电·压Vref进行比较，输出峰值检测的结附图说明图1是本专利技术的电路原理示意图；图2是本专利技术的电路仿真结果示意图；具体实施方式以下将结合附图和具体实施对本专利技术做进一步详细说明。如图1所示，电流源Ibi是一个可调基准电流，此电流经过电阻R产生峰值检测的阈值电压Vpk=Ibi · R ;VP、Vn是待检测差分信号的正负输入信号，Vpk分别与VP、Vn比较，输出比较结果Ve1、VG2 ；NM0S管Ml、M2分别和偏置电流Ib2形成共源极放大器，Vc为共源极放大器的输出，如图2所示是图1电路仿真结果的示意图，其中Vth表示NMOS管Ml、M2的阈值电压。 VP> Vn是待检测输入差分信号，假设Vp=Asin ω t，Vn=-Asin ω t，其共模电压为Vcm,则 ⑴、当VarVPK>A时，即Vpk与VP、Vn没有交叠时，Vpk小于输入信号的最低电压，VG1, Vg2 为低电平，NMOS管Ml、M2关断，此时电容放电电流Ic为零，Ib2对V。点等效电容进行充电，此等效电容包括Cc^MpM2漏极对地等效电容以及比较器CMP3负输入端的等效输入电容，通常情况下，Ctl的值远大于V。点的其他寄生电容，在此，只考虑电容Ctl，忽略其他寄生电容，那么V。会被充电，当H时，输出Z为低电平，此时输入信号没有超过峰值检测的阈值VPK，可以继续增大输入信号的幅度。 (2)、当V^Vp/A时，即Vpk与VP、Vn有交叠时，Vpk大于输入信号的最低电压，如图2所示，Ve1、Ve2为会出现高电平，NMOS管M1、M2会交替打开，此时电容放电电流Ic不为零，即电容Ctl会放电，且此放电电流等于Ml、M2打开的漏电流IDS，Ids远大于Ib2才能保证当Vq1-Vpk略大于A时，Vc会被放电到低电平，当H时，输出Z为低高电平，此时输入信号超过了峰值检测的阈值VPK，必须减小输入信号的幅度。 综上所述，此峰值检测电路检测输入信号幅度是否大于Vcm-1bi *R来判断输入信号幅度 是否满足要求，可以通过改变基准电流Ibi来改变峰值检测的阈值，从而实现一种阈值调的峰值检测电路。权利要求1. 一种阈值可调的峰值检测电路，其特征在于一个可调基准电流Ibi经过电阻R，产生峰值检测的阈值电压vpk，Vpk连接到比较器CMP1 和CMP2的正输入端；VP、VN是待检测的差分输入电压，分别连接到比较器CMP1和CMP2的负输入端，CMP1的输出Vgi连接到NMOS管M1的栅极，CMP2的输出Ve2连接到NMOS管M2的栅极， NMOS管Mp M2的源极接地，且分别与偏置电流Ib2组成共源极放大器，Vc为共源极放大器的输出；电容Ctl的一端接电源，另一端接V。；参考电压VMf和共源极放大器的输出V。分别接到比较器CMP3的正、负输入端，CMP3的输出即峰值检测结果Z。全文摘要本专利技术公开了一种阈值可调的峰值检测电路。本电路通过可调基准电流经过电阻产生峰值检测的阈值电压Vpk，此阈值电压分别和差分输入电压进行比较，然后再通过共源极放大器对电容C0进行充电或放电，控制电压Vc的值，此电压Vc最后与参考电压Vref进行比较，输出峰值检测的结果Z。文档编号H03K5/1532GK103001610SQ201210431920公开日2013年3月27日 申请日期2012年11月2日 优先权日2012年11月2日专利技术者蒋仁杰 申请人:长沙景嘉微电子股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阈值可调的峰值检测电路，其特征在于：一个可调基准电流IB1经过电阻R，产生峰值检测的阈值电压Vpk，Vpk连接到比较器CMP1和CMP2的正输入端；VP、VN是待检测的差分输入电压，分别连接到比较器CMP1和CMP2的负输入端，CMP1的输出VG1连接到NMOS管M1的栅极，CMP2的输出VG2连接到NMOS管M2的栅极，NMOS管M1、M2的源极接地，且分别与偏置电流IB2组成共源极放大器，Vc为共源极放大器的输出；电容C0的一端接电源，另一端接Vc；参考电压Vref和共源极放大器的输出Vc分别接到比较器CMP3的正、负输入端，CMP3的输出即峰值检测结果Z。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋仁杰，
申请(专利权)人：长沙景嘉微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：