一种检测电路制造技术

本发明专利技术提供一种检测电路，该检测电路包括第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。本发明专利技术的检测电路，能够提高显示面板的不良检出率，进而提高显示效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示器
，特别是涉及一种检测电路。
技术介绍
HVA配向技术主要是利用液晶中的高分子在紫外光和电场的共同作用下聚合，对液晶实现自动配向。其配向过程：首先在VA液晶中掺入一定比例的高纯度反应型液晶(趋光性单体，此种液晶既有普通液晶分子的液晶核，又在末端带有一个或多个亚克力基之类的可反应光能基)；随后上下基板之间外加一个电压，使液晶分子产生一个预倾角度；随后进行特定波长范围内的紫外光从阵列基板侧照射后，反应型液晶聚合成高分子网络吸引表层的液晶分子形成固定的预倾角。因此，HVA配向技术在紫外光照射液晶面板的同时，还需要施加一定的电压。阵列测试是阵列基板通过检测机台向基板输入检测信号，再将其导入至面板内部，以检测面板是否存在不良现象，比如面板的内线路是否短路或者断路。现有设计的检测线路可以进行显示面板的单驱检测和双驱检测，即面板双边检测电路可以分别从两边输入测试信号，这样就可以减少不良漏检率；然而，HVA固化的信号则只能单边输入，由于大尺寸面板的负载一般较大，可能会造成面板两边输入信号的延迟差异较大，而造成固化效果不一致，最终造成面板显示不良。因此，有必要提供一种检测电路，以解决现有技术所存在的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种检测电路，能够提高面板的不良检出率。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种检测电路，其包括：第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。在本专利技术的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于向所述显示面板输入测试信号，所述第一检测线组输入的测试信号和所述第二检测线组输入的测试信号相互独立。在本专利技术的检测电路中，所述控制模块，还用于在对所述显示面板进行配向时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组通过所述配向线组连接。在本专利技术的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于将所述配向线组输入的配向信号输入所述显示面板，所述第一检测线组输入的配向信号和所述第二检测线组输入的配向信号相同。在本专利技术的检测电路中，所述配向线对应一所述主检测线和一所述副检测线，所述配向线与对应的主检测线和对应的副检测线连接；所述控制模块包括多个控制单元，所述控制单元与所述配向线一一对应；所述控制单元与对应的桥接配向线连接，所述桥接配向线为连接在所述主检测线和所述副检测线之间的配向线。在本专利技术的检测电路中，所述控制单元用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述桥接配向线断开。在本专利技术的检测电路中，所述控制单元包括控制端、输入端、输出端；所述控制端用于输入控制信号，所述输入端与对应的所述桥接配向线的一端连接，所述输出端与对应的所述桥接配向线的另一端连接。在本专利技术的检测电路中，所述控制单元包括开关元件。在本专利技术的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都沿第一方向排列，所述配向线组沿第二方向排列。在本专利技术的检测电路中，所述第一检测线组用于对第一驱动电路进行检测，所述第二检测线组用于对第二驱动电路进行检测，其中所述第一驱动电路和所述第二驱动电路分别位于显示面板的相对侧。本专利技术的检测电路，在现有的检测电路的基础上增加控制模块，从而则既可以实现对显示面板的双边固化，又可以同时实现对显示面板的单边或者双边检测；从而提高显示面板的不良检出率，进而提高显示效果。【附图说明】图1为本专利技术的显示面板中的检测电路的一结构示意图。图2为本专利技术的显示面板中的检测电路的另一结构示意图。【具体实施方式】以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。本专利技术所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本专利技术，而非用以限制本专利技术。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。请参照图1，图1为本专利技术显示面板中的检测电路的一结构示意图。如图1所示，检测电路包括第一检测线组11、第二检测线组12以及配向线组13，其中配向线组13与第一检测线组11和第二检测线组连接12。第一检测线组11和第二检测线组12都用于对显示面板14进行检测，该显示面板包括两个GOA电路15，配向线组13用于对显示面板14进行配向处理。由于配向线组13与第一检测线组11和第二检测线组12连接，因此，在配向过程中，能够从左右两侧对面板进行双向配向。上述检测电路，可以实现对显示面板的双边固化；不会出现显示不均的现象。然而，在进行显示面板的检测时，只能进行双边检测，从而会容易造成水平方向不良线路的漏检。请参照图2，图2为本专利技术显示面板中的检测电路的另一结构示意图。如图2所示，本专利技术的检测电路包括第一检测线组11、第二检测线组12、配向线组13以及控制模块20。该第一检测线组11与显示面板14连接；该第一检测线组11包括多条主检测线L1至L4。所述第一检测线组11用于向所述显示面板14输入外界的测试信号。所述第二检测线组12与所述显示面板14连接；第二检测线组12包括多条副检测线R1至R4，所述第二检测线组12与所述第一检测线组11相对设置。所述第二检测线组12用于向所述显示面板14输入外界的测试信号。该配向线组13包括多条配向线H1至H4，所述配向线组13分别与所述第一检测线组11和所述第二检测线组12连接；该配向线H1至H4用于输入外界的配向信号。每条配向线对应一所述主检测线和一所述副检测线，所述配向线与对应的主检测线和对应的副检测线连接。比如配向线H1与主检测线L1和副检测线R1连接。配向线H2与主检测线L2和副检测线R2连接。配向线H3与主检测线L3和副检测线R3连接。配向线H4与主检测线L4和副检测线R4连接。在一实施方式中，所述第一检测线组11和所述第二检测线组12都沿第一方向(也即竖直方向)排列，所述配向线组13沿第二方向(也即水平方向)排列。该控制模块20用于在对所述显示面板14进行检测时，使得所述第一检测线组11和所述第二检测线组12断开连接，也即使得配向线组13与所述第一检测线组11和所述第二检测线组12之间的连接断开。第一检测线组11和第二检测线组12之间的配向线断开，从而使得所述第一检测线组11输入的测试信号和所述第二检测线组12输入的测试信号相互独立。也即当其中一个检测线组输入外界的测试信号时，不会传递至第二检测线组中，从而能够实现对显示面板的单边检测。此外，也可以同时对这两个检测组输入检测信号，以实现对显示面板的双边检测。在一实施方式中，当对所述显示面板14进行配向时，所述控制模块20还用于使得所述第一检测线组11和所述第二检测线组12连接，也即使得配向线组13与所述第一检测线组11和所述第二检测线组12之间维持连接。此时，第一检测线组11和第二检测线组12之间通过配向线连接，从而使得配向线输入的配向信号同时传递至所述第一检测线组11和所述第二检测线组12，之后所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电路，其特征在于，包括：第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，其特征在于，包括：第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于向所述显示面板输入测试信号，所述第一检测线组输入的测试信号和所述第二检测线组输入的测试信号相互独立。3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述控制模块，还用于在对所述显示面板进行配向时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组通过所述配向线组连接。4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于将所述配向线组输入的配向信号输入所述显示面板，所述第一检测线组输入的配向信号和所述第二检测线组输入的配向信号相同。5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾勉，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44