本发明专利技术公开了用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置，其中，该方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包含电子元件的第一数量的操作参数的组合；确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包括相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包括预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得第二组为多个集的集合的子集，每个集均包含相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置。
技术介绍
当在电子元件的制造期间或之后对电子元件进行测试时，测试程序可能会涉及到极端测试(corner testing)。在极端测试期间，被测器件(DUT)在其几个操作参数同时处于极限水平的情形下，即使各个操作参数的每个值均处于该操作参数的特定范围内，而针对其可操作性被进行测试。因此，极端状况与仅在几个操作参数值处于其额定范围的“边缘”时(即，几个操作参数采用其对应的最小额定值或最大额定值(极限值)时)才会出现的问题或情况相对应。极端状况的再现、测试和最优化通常更加困难和昂贵，因为它们要求多个操作参数的极限配置。除此之外，由于某些生产商认为其产品同时在多个极限设置下操作的机会非常小，所以他们往往不愿意对极端状况进行彻底测试。极端测试通常用在半导体器件的前娃(pre-Si)和后娃(post_Si)验证中，以确保DUT在规格、工艺变化和正常条件的其他偏差所带来的所有限制下的功能。这些测试面临上述问题，另外，由于操作参数的数量一般较大，它们会消耗大量珍贵的测试时间。100%覆盖所有极端状况的穷举或完全测试涉及到对最小和最大操作参数的所有可能组合下的器件进行测试和/或模拟。这种测试和/或模拟的数量随着验证空间的大小，即，器件的所考虑的操作参数的数量而按指数增加，因此，测试和/或模拟时间也随之增加。毫无疑问，不完全测试可缩短测试时间，但这会导致检测不到应用故障。蒙特卡罗测试会对整个验证空间进行探测，但仅能针对无限数量的试运行和/或模拟运行实现所有极端状况的100% (平均)覆盖。
技术实现思路
各个实施方式均提供了一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，该方法可产生用于大量(例如，I至100个)极端状况或极端条件的压缩极端测试，从而可确保在可行测试时间内100%覆盖前硅和/或后硅模拟中的极端状况或极端条件。根据各个实施方式，提供了一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法。该方法可包括确定第一中间集组，每个中间集均包含第一数量的参数的组合，所述第一数量的参数选自包含预定数量的参数的预定参数集，其中，所述参数表示电子元件的操作参数，每个参数均可具有多个参数值；确定第二参考集组，其中，第二组包含多个集的集合，每个集均包括相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；从一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包括预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得第二集为多个集的集合的子集，每个集均包括相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于第三组内的测试集的第二数量的。附图说明在附图中，在所有不同的视图中，相同的参考符号一般表示相同的部分。附图不一定按比例绘制，而通常强调对本专利技术的原理进行图解说明。在以下说明中，参考以下附图对本专利技术的各个实施方式进行说明，在附图中图1示出了根据各个实施方式的用于确定电子元件的操作参数的测试集的方法的流程图；图2示出了根据各个实施方式的穷举极端测试(exhaustive corner test)和压缩极端测试(compressed corner test)的测试时间的比较；图3示出了算法的阶数与输入参数的相关性；以及图4A和图4B示出了包含在通过根据各个实施方式的方法生成的测试列表中的试运行测试的数量的相对减少。具体实施例方式以下详细说明参考了附图，附图通过图解的方式示出了用于确定电子元件的操作参数的测试集的方法和装置的各个实施方式的具体细节。本文使用的单词“示例性”用于意指“作为示例、实例或例证”。本文描述为“示例性”的任何实施方式或设计并非一定被理解为比其他实施方式或设计优选或有利。根据用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法的各个实施方式，可生成用于一指定组的极端状况或极端条件和用于指定压缩状况或条件的一组极端测试，其中，在可行测试和/或模拟时间内，所述组中的极端测试的数量可被最小化，极端状况的覆盖率可被最大化。在以下说明中，术语“测试”应实现实际的后硅(后时代硅)硬件测试以及前硅(前时代)模拟。上文使用的术语“压缩”可表示将包括所有可能的极端状况或极端条件的测试的穷举极端测试减少至一组减少的或压缩的极端状况或极端条件(可在最后进行测试)，并提供充足的关于极端状况或极端条件下的DUT的特性的信息。下文将根据图1所示的流程图100对根据各个实施方式的用于确定电子元件的操作参数的测试集的方法进行说明。另外，主要是为了更好的理解，将提供示例的情况。然而，应指出的是，该示例情况仅为多个可能的方案之一，因此，其说明不以限制的方式布局。根据各个实施方式，用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法可从步骤102开始，在该步骤中，可确定压缩参数d和要检查的操作参数，所选操作参数的数量为D。操作参数可自由地选择，并且可与电子器件的操作参数对应，其中，制造商希望关于这些操作参数在极端条件或极端状况下对电子器件的影响进行细察。压缩参数d可与可被穷举极端测试中的各个极端条件细分成的每个子极端条件(subcorner condition)或子极端状况的维度相对应。换句话说，穷举极端测试中例如包括具有特定特异值(例如，最小值和最大值)的D=4个操作参数的极端状况可被细分为六个二维极端条件，六为从一组D=4个元素(其阶数不具有相关性)中抽取的d=2个元素的组合数。组合数与二项式系数D选d相对应,在该示例中为4选2，等于6。因此，极端压缩参数d可示意性地被视为可被穷举极端测试中的极端状况或极端条件细分成的子极端的任一个的维度。一般来说，每个操作参数均可具有k个不同参数值。典型地，数量k可等于2，各个操作参数均可采用两个操作参数值，例如，最小(额定)操作参数值和最大(额定)操作参数值。然而，k还可等于任何其他数量，例如，k=3，使得除最大值和最小值之外，标称的操作参数还可进一步由各个操作参数值采用。下文所示的表I中，列出了电子器件的四个操作参数的示例集，其将作为本说明中的示例。在该示例中，D=4个操作参数可针对穷举极端测试选择,其例如可与电源电压Vdd、频率f、温度T和信号输入电平Vin对应。在其他实施方式中，还可使用任何其他合适参数。此外，在各个实施方式中，可使用任意数量的操作参数，例如，四个以上，例如，五个、六个、七个、八个、九个、十个、十一个以上。此外，应强调的是，如下文结合图1所表明的，使用根据各个实施方式的方法的优点可随着操作参数的数量的增加而增加。在参数数量较小的情况下，例如，D=4，可在不借助算法的情况下找出确定穷举极端测试中的压缩测试的解决方法。在用作本说明的示例的所选方案中，为了便于图解，选择了较小数量的操作参数D=4。这四个参数在表I的第一列中列出。然而，由于操作参数的选择是随机的，下文将使用列于表I的第二列中的一般化操作参数。在表I的第三列中，给出了每个实际操作参数的示例性最小值，并且在第四列中，列出了将在下文使用的它们的一般化最小值。从表I的第三列与第四列的比较中可以看出，操作参数的最小值可抽象地由“O”表示。在表I的第五列中列出了每个实际操作参数的最大值，在第六列中列出了将在下文使用的其一般化最大值。从表I的第五列与第六列的比较中可以看出，操作参数的最本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，所述方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包括从包含预定数量的参数的预定参数集选择的第一数量的参数的组合，其中，所述参数表示所述电子元件的操作参数，并且每个参数均可以具有大量参数值；确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包含相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包含来自所述预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得所述第二组为多个集的集合的子集，每个集均包括相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于所述第三组内的测试集的所述第二数量。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：托马斯·尼尔迈尔，乔治·佩尔兹，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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