用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置，其中，该方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包含电子元件的第一数量的操作参数的组合；确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包括相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包括预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得第二组为多个集的集合的子集，每个集均包含相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置。
技术介绍
当在电子元件的制造期间或之后对电子元件进行测试时，测试程序可能会涉及到极端测试(corner testing)。在极端测试期间，被测器件(DUT)在其几个操作参数同时处于极限水平的情形下，即使各个操作参数的每个值均处于该操作参数的特定范围内，而针对其可操作性被进行测试。因此，极端状况与仅在几个操作参数值处于其额定范围的“边缘”时(即，几个操作参数采用其对应的最小额定值或最大额定值(极限值)时)才会出现的问题或情况相对应。极端状况的再现、测试和最优化通常更加困难和昂贵，因为它们要求多个操作参数的极限配置。除此之外，由于某些生产商认为其产品同时在多个极限设置下操作的机会非常小，所以他们往往不愿意对极端状况进行彻底测试。极端测试通常用在半导体器件的前娃(pre-Si)和后娃(post_Si)验证中，以确保DUT在规格、工艺变化和正常条件的其他偏差所带来的所有限制下的功能。这些测试面临上述问题，另外，由于操作参数的数量一般较大，它们会消耗大量珍贵的测试时间。100%覆盖所有极端状况的穷举或完全测试涉及到对最小和最大本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法，所述方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包括从包含预定数量的参数的预定参数集选择的第一数量的参数的组合，其中，所述参数表示所述电子元件的操作参数，并且每个参数均可以具有大量参数值；确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包含相应中间集的参数的参数值的所有可能组合；在一组预定集中选择具有第二数量的测试集的第三组，其中，每个预定集均包含来自所述预定参数集中的所有参数的参数值的不同组合，使得所述第二组为多个集的集合的子集，每个集均包括相应测试集的所有参数的第一数量的参数值的所有可能组合，其中，所述集的数量等于所述第三组内的测试集...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：托马斯·尼尔迈尔，乔治·佩尔兹，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：