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本发明公开了用于确定电子元件的操作参数值的测试集的方法和装置，其中，该方法包括：确定第一中间集组，每个中间集均包含电子元件的第一数量的操作参数的组合；确定第二参考集组，其中，所述第二组包含多个集的集合，每个集均包括相应中间集的参数的参数值的...
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