基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置，该装置包括激光器（1），1×2光纤分束器（2），第一、第二、第三、第四光纤，相位调制器（4），第一、第二光纤准直器，合束透镜（6），分光棱镜（7），第一、第二显微物镜，数字相机（9），针孔（10），光电探测器（11），频响仪（12）和计算机（13）。本发明专利技术简化了相位调制器性能参数的测量；而且该测试装置能测量所有带有光纤接口的相位调制器；同时，该平台还具有能粗略估计和精确测量谐振频率的功能，在精度要求不高时，可通过数字相机观察远场光斑对比度简单快捷地获得谐振频率，在精度要求较高时，可通过分析计算光电探测器采集到的信号获得较精确的谐振频率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学仪器和测量领域，尤其是相位调制器性能参数的测试装置与方法，具体是相位调制器相移系数和谐振频率的测试装置与方法。
技术介绍
相位调制器在光束相干合成、光通信、光学传感等领域具有广泛的应用。在光束相干合成领域，相位调制器是合成系统的核心器件，通过一定的控制算法来控制相位调制器补偿光束间的相位差，使两路或多路光的相位保持一致；在相干光通信领域，可利用相位调制器将需要传送的信号加载到载波上面，从而完成信号的传输；在光学传感领域，相位调制器是光学陀螺的重要组成部分。相位调制器的性能参数包括相移系数和谐振频率等。相移系数反映了相位调制器的调节精度和光程调节量，谐振频率反映了相位调制器的响应速率和调节带宽。测量相移系数的方法有多种，2004年于瑞兰等人利用Michelson光纤干涉仪来进行测量，光耦合器将入射光分成两束进入两臂，两束光到达各自端面的反射镜后被重新反射进入耦合器，由耦合器的另一端输出干涉信号，通过分析接收到的干涉信号来测得相移系数(参见文献I “压电陶瓷相位调制器相移系数的测量”于瑞兰等，光电子技术与信息，2004年12月17(6))，2009年陈妍等人提出了基于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置，所述的相位调制器性能参数包括相移系数和谐振频率，其中所述的相移系数即施加单位电压时光束相位的改变量，其特征在于：包括激光器（1）、1×2光纤分束器（2）、第一、第二、第三、第四光纤（31、32、33、34）、相位调制器（4）、第一光纤准直器（51）、第二光纤准直器（52）、合束透镜（6）、分光棱镜（7）、第一显微物镜（81）、第二显微物镜（82）、数字相机（9）、针孔（10）、光电探测器（11）、频响仪（12）和计算机（13），所述的激光器（1）发出的一束光通过第一光纤（31）后经1×2光纤分束器（2）分成两路，一路光直接经过第二光纤（32）进...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谭毅，耿超，罗文，刘红梅，武云云，李新阳，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：