【技术实现步骤摘要】
含有陀螺仪和加速计的微机电设备
本专利技术涉及一种集成了陀螺仪和加速计的微机电设备。
技术介绍
正如所知,微机电系统(MEMS)的使用已经持续扩展至各种
,并且已经尤其在用于广泛应用的惯性传感器、微集成陀螺仪和机电振荡器的生产中产生令人鼓舞的结果。这一类的MEMS通常基于包括至少一个质量体的微机电结构,该质量体(mass)通过弹性件连接到支撑体(定子)并且根据预设自由度相对于定子可移动。通过多个相应梳齿形并且相互相对的电极来电容性耦合可移动质量体和定子以便形成电容器。可移动质量体相对于定子的移动例如因外部应力而修改电容器的电容,从而有可能追溯至可移动质量体相对于固定体的相对移位,并且因此追溯至施加的力。反言之,通过施加适当偏置电压,有可能向可移动质量体施加静电力以将它设置于运动。另外,为了获得机电振荡器,利用谐振频率来研究惯性MEMS结构的频率响应,该频率响应通常为二阶低通型。具体而言,MEMS加速计利用如下事实:可移动质量体沿着一个或者多个感测轴的移位与定子受到的沿着相同轴的加速分量的幅度相关。如上文提到的那样,弹性件的弹性动作抵消这些移位,并且可以通过电容性耦合的变化来感测这些移位。MEMS陀螺仪具有更复杂的机电结构,该结构通常包括相对于定子可移动并且耦合在一起以便具有相对自由度的两个质量体。两个可移动质量体均电容性耦合到定子。质量体之一专用于驱动并且保持于具有受控幅度的以谐振频率的振荡。另一质量体在振荡(平移或者旋转)运动中被驱动,并且在微结构以角速率相对于预设陀螺轴旋转的情况下受到与角速率本身成比例的科里奥利力。在实践中,如同驱动质量体一样通 ...
【技术保护点】
一种微机电设备,包括:支撑结构(12;112;212);第一感测质量体(13a;113a;213a)和第二感测质量体(13b;113b;213b),均根据第一轴(X;X,Y)并且各自根据与所述第一轴(X;X,Y)垂直的相应第二轴(Y;Ra,Rb;Y,X,Ra,Rb,Rc,Rd)相对于所述支撑结构(12;112;212)可移动;驱动设备(3),配置成将所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)维持于相位相反的沿着所述第一轴(X;X,Y)的振荡;第一感测组和第二感测组(18;118;218,220),配置成供应感测信号(S(Ca1)?S(Cb2);S(Ca1)?S(Cd4)),所述感测信号(S(Ca1)?S(Cb2);S(Ca1)?S(Cd4))指示所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)分别根据所述相应第二轴(Y;Ra,Rb;Y,X,Z,Ra,Rb,Rc,Rd)的移位;处理部件(7,8),配置成在第一感测模式中和在第二感测模式中组合所述感测信号(SCa1?SCb2;SCa1? ...
【技术特征摘要】
2011.09.12 IT TO2011A0008061.一种微机电设备,包括:支撑结构(12;112;212);第一感测质量体(13a;113a;213a)和第二感测质量体(13b;113b;213b),均根据第一轴(X;X,Y)并且各自根据与所述第一轴(X;X,Y)垂直的相应第二轴(Y;Ra,Rb;Y,X,Ra,Rb,Rc,Rd)相对于所述支撑结构(12;112;212)可移动;驱动设备(3),配置成将所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)维持于相位相反的沿着所述第一轴(X;X,Y)的振荡;第一感测组和第二感测组(18;118;218,220),配置成供应感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4)),所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))指示所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)分别根据所述相应第二轴(Y;Ra,Rb;Y,X,Z,Ra,Rb,Rc,Rd)的移位;处理部件(7,8),配置成在第一感测模式中和在第二感测模式中组合所述感测信号(SCa1-SCb2;SCa1-SCd4)以便:在所述第一感测模式中,放大所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的协调移位对所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))的影响并且衰减所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的不协调移位的影响;并且在所述第二感测模式中,放大所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的不协调移位对所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))的影响并且衰减所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的协调移位的影响。2.根据权利要求1所述的设备,其中所述处理部件(7,8)被配置成组合所述感测信号(SCa1-SCb2;SCa1-SCd4)以便:在所述第一感测模式中,增添所述支撑结构(12;112;212)沿着与所述第一轴(X;X,Y)垂直的感测轴(Y;Z;Y,X,Z)的加速所引起的所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的移位对所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))的影响,并且衰减所述支撑结构(12;112;212)绕着与所述第一轴(X;X,Y)垂直的第三轴(Z;Y;Z,X,Y)的旋转所引起的所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的移位与沿所述第一轴(X;X,Y)的所述振荡的组合对所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))的影响;并且在所述第二感测模式中,增添所述支撑结构(12;112;212)绕着所述第三轴(Z;Y;Z,X,Y)的旋转所引起的所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的移位与沿所述第一轴(X;X,Y)的所述振荡的组合对所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))的影响,并且衰减所述支撑结构(12;112;212)根据所述感测轴(Y;Z;Y,X,Z)的加速所引起的所述第一感测质量体(13a;113a;213a)和所述第二感测质量体(13b;113b;213b)的移位对所述感测信号(S(Ca1)-S(Cb2);S(Ca1)-S(Cd4))的影响。3.根据权利要求1或者2所述的设备,其中所述第一感测组和所述第二感测组(18;118;218,220)为电容型,并且配置成响应于所述第一感测质量体(13...
【专利技术属性】
技术研发人员:B·希莫尼,C·瓦尔扎希纳,
申请(专利权)人:意法半导体股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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