【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及近景数字摄影测量技术，具体。
技术介绍
摄影测量系统是使用高端数字相机系统在不同的位置和方向获取标准实物及同一物体的两幅以上数字图像，经计算机图像分析及相关数学解算后得到待测点精确的三维坐标。摄影测量系统的参考标准实物其实质就是测量基准即基准尺。因此，基准尺的精确与否，直接关系到整个测量工程是否可靠，测量结果是否准确。虽然基准尺的外形有很多种，但都是在两端粘贴反射标志或固定带反射标志的工装，所述反射标志是一个反光性能较强的圆(或圆环)标贴，两端反射标志的实际几何中心间距即为基准尺的实际长度。作为测量基准，在摄影测量系统使用前，必须对基准尺的长度进行准确的标定。 目前，基准尺长度的标定是利用高精度的激光测长机、光栅测长机来实施的。标定时，利用测长机的长度作为测量标准，利用测长机所带显微镜放大机构通过切边确定回光反射标志圆(或圆环)的中心，确定标志中心间距，以此得到基准尺的长度。其标定过程是I)、利用显微镜放大回光反射标志，将零位刻度线与一端的反射标志的圆相切；2)、移动光栅尺至另一端的回光反射标志，与该标志圆相对前标志圆同侧相切；3)、PC机上显示的...
【技术保护点】
数字摄影测量系统的基准尺长度标定方法，其借助一测长装置（2）和数字摄影测量系统（1）对基准尺（3）的长度进行标定，其中所述基准尺（3）的两端分别设有第一反射标志（4）和第二反射标志（5），所述第一反射标志（4）的中心点与第二反射标志（5）的中心点的距离即为基准尺（3）的长度；所述测长装置（2）包括机座以及经导向机构安装在该机座上的可移动工作台（2a），该机座与可移动工作台（2a）之间设置有用于测量可移动工作台（2a）移动距离的直线位移测量装置；该方法包括如下步骤：一、测量准备：将基准尺（3）和测长装置（2）分别置于数字摄影测量系统（1）的测量区域内，使所述基准尺（3）和测长...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：段玲，黄桂平，段君毅，张进，
申请(专利权)人：二重集团德阳重型装备股份有限公司，郑州辰维科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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