【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及适用于作为液晶元件制造方法的液晶滴下方法的液晶滴下方法用密封剂。
技术介绍
液晶元件的故障多因密封剂而产生,公知的有显示不匀、液晶泄露等。关于显示不匀,公知的有密封剂成分从未硬化部溶出于液晶、或由于硬化后的密封剂所产生的挥发成分等的污染导致液晶被污染而产生的情况。因此,使密封剂难以与液晶相溶、或减少放气等,用这样的应对方法来降低对液晶的污染。但是,对于因为密封剂龟裂、从被粘物的界面剥离、密封剂自身的溶胀等原因而产生的液晶泄露,如果对液晶元件不进行加速试验就不易发现故障原因,影响密封剂自身特性。特别是作为液晶元件中的必需材料的ITO玻璃,玻璃表面用无机膜处理,由于热等ITO面容易变化,因此可能成为密封剂粘合性方面的不稳定因素。加速试验也进行各种项目。具体地,可以列举高温试验(80°c)、热循环试验(一 20°C 60°C)、高温高湿试验(85°C X85%RH)、热冲击试验(一 20°C X30* 60°C父30分)、 压力锅试验等,对有机材料最严格的试验是压力锅试验。在120 C、2atm氛围下,水分将渗透密封剂,因此,水分强制性地进入被粘物和密封 ...
【技术保护点】
一种液晶滴下方法用密封剂,为含有(A)~(C)成分,采用热硬化以及光硬化的液晶滴下方法用密封剂,其中,(A)成分:环氧树脂(B)成分:(甲基)丙烯酸树脂(C)成分:具有羟基但不具有(甲基)丙烯酸基和环氧基的(甲基)丙烯酸系聚合物。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:今井雄介,赤坂秀文,铃木宏则,
申请(专利权)人:三键有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。