一种数控机床在机接触式测量用的测针制造技术

本实用新型专利技术涉及数控机床测量技术领域，特别涉及一种数控机床在机接触式测量用的测针。由测杆和触头组成，触头位于测杆的一端，测杆的另一端设有螺纹接口。其中，所述触头的形状是薄圆柱与一个或两个圆台的组合，包括正圆台加薄圆柱的组合、薄圆柱加倒圆台的组合以及正圆台加薄圆柱加倒圆台的组合。本实用新型专利技术将测针接触点设置在斜面上，倒角补偿测量时，只需通过测量倒角面棱边的点，即可计算刀具路径的补偿值，操作简单，探测效率高。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及数控机床测量
，特别涉及一种数控机床在机接触式测量用的测针。技术背景 在一些高光产品加工中，为防止由于工件装夹精度问题而造成的倒角不一致的情况，通常采用在机测量补偿技术，即通过坐标测量机对工件位置进行测量、计算，然后将误差补偿到加工路径中，从而保证工件倒角加工的一致性。目前，坐标测量机的测针触头大多为球形或者圆柱形，在对工件进行测量时，首先使用测针探测工件的侧面，计算出工件在XY平面内的偏移和旋转角度；再对工件的Z表面进行探测，计算出工件Z面的倾斜度，然后把两次计算的数据补偿到倒角的轮廓中。这种测量方式由于需要对工件的侧面和Z表面分别进行探测，程序复杂，探测效率低。如果工件的下表面也需要倒角的话，为了防止测针在探测下表面时与工件发生干涉，其运动过程更加复杂，首先需要测针触头移动到工件下表面以下，然后向工件水平运动一定的距离，开始向上探测，触发到工件后，再向下退回，然后远离工件，这样探测下表面比探测上表面所要运行的动作多，距离长，因此探测效率会更低。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、易于加工的数控机床在机测量用的测针，通过直接测量待倒角的直角棱即可获得工件的路径补偿量，程序简单、探测效率闻。为了解决上述技术问题，本技术是通过以下技术方案实现的。一种数控机床在机接触式测量用的测针，由测杆和触头组成，触头位于测杆的一端；测杆的另一端设有螺纹接口 ；其中，所述触头的形状是薄圆柱与一个或两个圆台的组口 o上述一种数控机床在机接触式测量用的测针，所述薄圆柱与一个或两个圆台的组合包括正圆台加薄圆柱的组合、薄圆柱加倒圆台的组合以及正圆台加薄圆柱加倒圆台的组合。当只有上顶面需要倒角时，可以选用薄圆柱加倒圆台的组合结构；若只有下底面需要倒角时，可以选用正圆台加薄圆柱的组合结构；而上顶面和下底面均需要倒角的时候，需选择正圆台加薄圆柱加倒圆台的组合结构。上述一种数控机床在机接触式测量用的测针，所述圆台的母线与其轴线间的夹角范围为30° 60°。在对工件表面进行倒角前，首先根据倒角面的高度，选择合适的触头位置高度；再根据倒角精度的要求，在倒角面的棱边上选取若干测量点，并根据测量点的理论位置和触头高度计算出触头与测量点接触时测针轴线的理论位置；然后水平移动测针，对每一个测量点逐一进行测量，并记录测针轴线的实际位置；然后针对每一个测量点，分别计算实际测量时，测针轴线相对于理论计算时的位置偏移；最后将每一测量点的位置偏移量补偿到刀具路径中。与现有技术相比，本技术的有益效果在于本技术将测针接触点设置在斜面上，倒角补偿测量时，只需通过测量倒角面棱边的点，即可计算刀具路径的补偿值，操作简单，探测效率高。附图说明图I是本技术实施例I的结构示意图。图2是本技术实施例2的结构示意图。图3是本技术实施例3的结构示意图。 图4是本技术对上顶面测量时的示意图。具体实施方式以下结合附图与具体实施方式对本技术作进一步详细描述。实施例I :如图I所示，本实施例由测杆I和触头2组成，触头2位于测杆I的下端；测杆I的上端设有螺纹接口 3 ;触头2的形状是由一个薄圆柱向下延伸出一个倒立的圆台结构。实施例2 :如图2所示，本实施例由测杆I和触头2组成，触头2位于测杆I的下端；测杆I的上端设有螺纹接口 3 ;触头2的形状是由一个正立的圆台向下延伸出一个薄圆柱结构。实施例3 :如图3所示，本实施例由测杆I和触头2组成，触头2位于测杆I的下端；测杆I的上端设有螺纹接口 3 ;触头2的形状是由一个薄圆柱分别向上下延伸出一个正立的圆台和一个倒立的圆台结构。如图4所示，当对一个方形顶面进行倒角加工时，为保证倒角的一致性，在倒角前，用本实施例I或实施例3的测针对其位置进行测量。首先垂直移动测针，保证方形顶面介于触头2的圆台上底面和下底面之间；并在方形顶面的四条棱边上分别选取5个测量点，依次标记为 101、102、103、104、105、201、202、203、204、205、301、302、303、304、305、401、402,403,404和405，并记下每一个测量点的理论位置坐标，同时计算出触头2与每一个测量点接触时测针轴线的理论位置；然后水平移动测针，对每一个测量点逐一进行测量，并记录测针轴线的实际位置；然后针对每一个测量点，计算实际测量时，测针轴线相对于理论计算时的位置偏移；最后将每一测量点的位置偏移量补偿到刀具路径中。权利要求1.一种数控机床在机接触式测量用的测针，由测杆和触头组成，触头位于测杆的一端，测杆的另一端设有螺纹接口，其特征在于所述触头的形状是薄圆柱与一个或两个圆台的组合。2.根据权利要求I所述的一种数控机床在机接触式测量用的测针，其特征在于所述薄圆柱与一个或两个圆台的组合包括正圆台加薄圆柱的组合、薄圆柱加倒圆台的组合以及正圆台加薄圆柱加倒圆台的组合。3.根据权利要求I或2所述的一种数控机床在机接触式测量用的测针，其特征在于所述圆台的母线与其轴线间的夹角范围为30° 60°。专利摘要本技术涉及数控机床测量
，特别涉及一种数控机床在机接触式测量用的测针。由测杆和触头组成，触头位于测杆的一端，测杆的另一端设有螺纹接口。其中，所述触头的形状是薄圆柱与一个或两个圆台的组合，包括正圆台加薄圆柱的组合、薄圆柱加倒圆台的组合以及正圆台加薄圆柱加倒圆台的组合。本技术将测针接触点设置在斜面上，倒角补偿测量时，只需通过测量倒角面棱边的点，即可计算刀具路径的补偿值，操作简单，探测效率高。文档编号G05B19/401GK202794965SQ20122051683公开日2013年3月13日 申请日期2012年10月10日 优先权日2012年10月10日专利技术者孙艺华, 蔡锐龙 申请人:北京精雕科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数控机床在机接触式测量用的测针，由测杆和触头组成，触头位于测杆的一端，测杆的另一端设有螺纹接口，其特征在于：所述触头的形状是薄圆柱与一个或两个圆台的组合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙艺华，蔡锐龙，
申请(专利权)人：北京精雕科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：