基于历史数据的单粒子翻转率的确定方法技术

本发明专利技术提供了一种基于历史数据的单粒子翻转率的确定方法，所述方法通过下式确定器件的单粒子翻转率：Rate=C×FOM，其中，Rate为器件的单粒子翻转率；C为经验系数；FOM为品质因数；σHL为重离子引起的器件饱和截面；L0.25为器件的能量线性传递-截面曲线中，饱和截面25%位置对应的能量线性传递值。本发明专利技术利用试验数据与工程经验相结合，简化了单粒子翻转率的计算过程，便于工程的应用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及空间辐射领域，特别涉及一种。
技术介绍
在复杂恶劣的空间辐射环境下，器件会发生单粒子效应，使电路逻辑状态发生翻转。单粒子效应的空间辐射环境可靠性指标体系算法过程中的可接受风险和可实现能力的确定均可以使用已有历史经验数据进行计算。现有技术中利用RPP (rectangular parallelepiped)方法和 IRPP (integratedrectangular parallelepiped)方法来计算器件的单粒子翻转率。RPP 方法权利要求1.一种，其特征在于，所述方法通过下式确定器件的单粒子翻转率2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述La25通过下式获得 U.25 = L0+wXO. 288 (1/s)， 其中，Ltl为器件的单粒子翻转阈值;w为器件的单粒子翻转截面数据威布尔拟合曲线的尺度参数；s为器件的单粒子翻转截面数据威布尔拟合曲线的形状参数。3.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，对于对地静止轨道，所述C值为200。4.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，对于非加固器件，所述C值为36(Γ485。5.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于历史数据的单粒子翻转率的确定方法，其特征在于，所述方法通过下式确定器件的单粒子翻转率：Rate=C×FOM，FOM=σHLL0.252其中，Rate为器件的单粒子翻转率；C为经验系数；FOM为品质因数；σHL为重离子引起的器件单粒子翻转饱和截面；L0.25为器件的能量线性传递？截面曲线中，饱和截面25%位置对应的能量线性传递值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王群勇，陈冬梅，冯颖，阳辉，钟征宇，陈宇，白桦，
申请(专利权)人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：