本发明专利技术提供一种用于太阳自适应光学系统的波前传感器，包括准直器(1)、窄带滤光器(2)、取样反射镜(3)、中继系统(4)、扩束器(5)、衰减器(6)、移相器(7)、采集器件(8)和数据处理模块(9)，其利用了太阳辐射强度均匀性和半波损失移相原理，克服传统太阳自适应光学系统中相关哈特曼-夏克波前探测技术存在的探测空间分辨率低、低对比度扩展目标波前探测精度低、以及波前探测计算量大、效率较低等不足。本发明专利技术光学结构简单，计算量小，波前探测及处理速度快，探测效率高，且对太阳表面活动区目标对比度要求不高，可以用于中等、甚至差视宁度条件下，对低对比度扩展目标的波前测量，能够有效提高太阳自适应光学系统的校正带宽，并扩大其工作时段，提高校正效果。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要涉及太阳自适应光学系统中的波前探测技术，尤其是针对太阳自适应光学系统中基于干涉原理的新型波前探测技术，提供一种用于太阳自适应光学系统的波前传感器。
技术介绍
太阳自适应光学系统是目前国内外绝大多数太阳望远镜，尤其是大口径太阳望远镜，成功实现对太阳表面活动区观测的必要手段之一。太阳望远镜对太阳表面观测的理论分辨力与其观测口径有关，定性地来说，口径越大的太阳望远镜，其对应的观测分辨率越高。对于太阳活动区观测而言，更小空间尺度活动规律的观测为研究人员理解宏观现象提供了基础，这也要求不断增加太阳望远镜的口径。然而，事实并非如此简单，当人们努力建造更大口径的太阳望远镜时，其空间分辨能力并未得到明显提高，甚至不超过20cm 口径望远镜所达到的分辨能力。而造成这一切的根源是大气湍流对太阳望远镜成像质量的影响，降低对太阳表面观测的分辨力。为了能够充分发挥大口径太阳望远镜的成像能力，使之达到或接近衍射极限观测性能，需要为其配备相应的自适应光学系统。配备了自适应光学系统的太阳望远镜，不仅能在良好视宁度条件下对太阳表面进行接近衍射极限的高分辨力成像，即使在中等视宁度条件下，也能够获得较好、甚至接近衍射极限的高分辨力观测，从而满足对太阳活动区长时间、高精度观测需求。与传统自适应光学系统相比较，太阳自适应光学系统最大的不同在于波前传感器不同。目前，世界上大多数太阳自适应光学系统中主要采用相关哈特曼-夏克波前传感器探测波前畸变信息，这主要得益于哈特曼-夏克波前传感器光学结构简单、波前提取算法成熟。随着我国及世界太阳物理学科的发展，对太阳表面活动区以及其他区域的观测空间频率和时间带宽不断增大，这也间接对太阳望远镜以及太阳自适应光学系统提出了更高的要求，传统的哈特曼-夏克波前传感器的波前探测能力则越来越不能满足系统要求，这主要体现在以下两个方面 (I)波前探测运算量大，波前探测效率低；(2).对低对比度扩展目标波前探测精度较低。为了解决以上问题，世界各国太阳观测研究人员提出几种可能的相关哈特曼-夏克波前传感器替代方案，如美国国家太阳观测站(NSO)研究人员Thomas R. Rimmele和JoseMarino在他们2011年合作撰写的” Solar Adaptive Optics” 一书中指出，相位差(PhaseDiversity, PD)波前传感器是相关哈特曼-夏克波前探测器的可能替代者之一，这主要是由于相位差波前传感器可以在较大视场范围内工作，且图像分辨率可以大大提高，对于低对比度扩展目标的波前探测精度相对相关哈特曼-夏克波前传感器有较大提高。但在当前阶段，相位差波前传感器仍是未来潜在的替代方案，并没有被成功应用于太阳自适应光学系统中，主要原因是从像面强度信息复原波前畸变信息算法复杂，运算量很大，在当前计算机的处理能力下，已使用的相位差波前传感器探测时间带宽仅能达到IOOHz左右，严重制约了太阳自适应光学系统的校正能力。本专利技术提出采用两步移相干涉仪对太阳观测系统中的波前畸变进行实时探测。本专利技术旨在利用太阳光强度分布的均匀性，根据两步移相干涉仪原理，设计出适合于太阳望远镜波前探测的干涉仪结构，并通过对相关理论和算法的研究，使之更适合完成实际观测系统的波前探测任务，为相关哈特曼-夏克波前传感器增加一个有力的补充。这种探测方法相位提取算法简单，速度较快，极大放松了传统自适应光学系统波前探测的时间要求；此夕卜，提出的探测方法回避了图像相关运算，因此对成像对比度要求不高，这大大提高了太阳自适应光学系统的工作时段和环境适应能力
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是为了克服传统太阳自适应光学系统中相关哈特曼-夏克波前传感器对低对比度扩展目标波前探测能力的不足，同时解决随着太阳望远镜口径不断增大、太阳自适应光学系统校正单元数不断增多而带来的计算量大、波前探测效率较低等问题。本专利旨在利用太阳光强度分布的均匀性，根据两步移相干涉仪原理，设计出适合于太阳望远镜波前探测的干涉仪结构，并通过对相关理论和算法的研究，使之更适合完成实际观测系统的波前探测任务，为因太阳望远镜口径的不断增大以及相应太阳自适应光学系统校正单元数不断增多所带来的问题提供解决方案。本专利技术解决上述技术问题采用的技术方案是一种用于太阳自适应光学系统的波前传感器，包括准直器、窄带滤光器、取样反射镜、中继系统、扩束器、衰减器、移相器、采集器件、数据处理模块；首先在太阳望远镜像面后端增加一个准直器，将太阳望远镜入射光束准直为合适口径的平行光束，并通过窄带滤光器将入射全波段太阳光谱限制在某较窄光谱范围内；取样反射镜被放置于位于出瞳位置的平行光束中，并将其中一部分光束反射进入扩束器中，使得反射的部分小口径平行光被扩束至取样前相同口径；被取样后的平行光束经过中继系统，并被衰减器降低整体光强；经过扩束器的光束和经过中继系统后的光束具有相同口径和近似功率密度，并同时进入由分光镜组成的移相器中，形成相移量分别为O和H的两幅干涉图，通过采集器件得到相应的干涉图样强度分布信息；最后利用干涉数据处理模块对采集器件采集到的干涉图像进行数据处理后，可以得到对应的太阳望远镜系统中待测畸变波前信息；所述的数据处理过程如下设入射光束经过窄带滤光器后的光束口径为D，光束强度分布为I，经过取样反射镜从主光束中取出部分光束口径设为d，该取样光束经过扩束器后，扩束光束口径为D’，则扩束后的光束强度分布I1表不为:I1 = IX (d/Of )2(I)取样后的光束，经过中继系统后其口径大小也为D’，设裳减器的裳减系数为η，则取样后光束的强度分布I2表不为I2 = IX (DXD，)2Χ η(2)设待测畸变波前为Δφ(χ, _y)，则经过由分光镜组成的半波移相器后形成两幅相移量分别为O和π的干涉图，干涉图强度分布Ia(X，y)和Ib(X，y)如下式所示Ia(Av) = I1 + 1!+ 2λ/7ιχ及 cos(A^(x,>0)⑶ IB(x,y) = Ix +12+ Iyjll XI2 cos(A^(x, v) + π)由公式(3)得到干涉图强度分布Ia(X，y)和Ib(x，y)与待测畸变波前Δφ(χ, >，)之间的定量关系，表示为公式(4)所示_(Δ 咖，V))=他，>，)-4 峡攀(4) IA(x,y) + IB{x,y) I^lJ2将公式⑴和公式⑵代入公式⑷后，得到 cos_' V)) I1 (χ, v) + Ib(x,y) 2IdDID'2 ψ _ I :(x,y)-1,^x,y) J2 + D1 ηV v) + 4(x,v) Ι Ο^η经过反余弦计算以及余弦相位解缠绕后即可得出待测畸变波前Δφ(χ，_>^其中，所述的窄带滤光器是指能够将太阳光谱限制在一定范围内的光学器件。其中，所述的窄带滤光器，其位置放置于准直器之后，或者放置于准直器之前，或者由两个独立的窄带滤光器组成，分别放置于两幅干涉图形成之前的某一位置。其中，所述的采集器件是CCD相机，或者CMOS相机，或者是其他种类的光强分布探测器。其中，所述的采集器件采集两幅干涉图，其由一个采集器件同时采集两幅干涉图，或者由两个独立采集器件分别采集两幅干涉图。其中，所述的扩束器，其将取样后的小口径光束扩束后的光本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于太阳自适应光学系统的波前传感器，其特征在于，包括：准直器(1)、窄带滤光器(2)、取样反射镜(3)、中继系统(4)、扩束器(5)、衰减器(6)、移相器(7)、采集器件(8)、数据处理模块(9)；首先在太阳望远镜像面后端增加一个准直器(1)，将太阳望远镜入射光束准直为合适口径的平行光束，并通过窄带滤光器(2)将入射全波段太阳光谱限制在某较窄光谱范围内；取样反射镜(3)被放置于位于出瞳位置的平行光束中，并将其中一部分光束反射进入扩束器(5)中，使得反射的部分小口径平行光被扩束至取样前相同口径；被取样后的平行光束经过中继系统(4)，并被衰减器(6)降低整体光强；经过扩束器的光束和经过中继系统后的光束具有相同口径和近似功率密度，并同时进入由分光镜组成的移相器(7)中，形成相移量分别为0和π的两幅干涉图，通过采集器件(8)得到相应的干涉图样强度分布信息；最后利用干涉数据处理模块(9)对采集器件(8)采集到的干涉图像进行数据处理后，可以得到对应的太阳望远镜系统中待测畸变波前信息；所述的数据处理过程如下：设入射光束经过窄带滤光器后的光束口径为D，光束强度分布为I，经过取样反射镜(3)从主光束中取出部分光束口径设为d，该取样光束经过扩束器(5)后，扩束光束口径为D’，则扩束后的光束强度分布I1表示为：I1＝I×(d/D’)2？？？？？？？？？？？？？？？？(1)取样后的光束，经过中继系统(4)后其口径大小也为D’，设衰减器(6)的衰减系数为η,则取样后光束的强度分布I2表示为：I2＝I×(D/D’)2×η？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？(2)设待测畸变波前为则经过由分光镜组成的半波移相器(7)后形成两幅相移量分别为0和π的干涉图，干涉图强度分布IA(x,y)和IB(x,y)如下式所示：由公式(3)得到干涉图强度分布IA(x,y)和IB(x,y)与待测畸变波前之间的定量关系，表示为公式(4)所示：将公式(1)和公式(2)代入公式(4)后，得到：经过反余弦计算以及余弦相位解缠绕后即可得出待测畸变波前FDA00002555457000011.jpg,FDA00002555457000012.jpg,FDA00002555457000013.jpg,FDA00002555457000014.jpg,FDA00002555457000021.jpg,FDA00002555457000022.jpg...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：顾乃庭，饶长辉，朱磊，张兰强，郑联慧，钟立波，刘洋溢，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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