观测系统技术方案

一种观测系统，适用于观测一个待测物，并包含位于该待测物的一侧的一个同轴灯源、一个线性灯源、一个半穿反透镜及一个观测单元。该同轴灯源包括一个发光表面及一根与该待测物的一个待测平面平行的第一光学轴。该线性灯源包括一根第二光学轴，该第二光学轴与一根该待测平面的法线夹一个入射角。该半穿反透镜与该发光表面夹45度，且夹角开口朝向该待测平面。该观测单元朝向该待测物且沿一根第三光学轴取像，该第三光学轴通过该待测物并该法线夹一个与该入射角大小相同的反射角。如此，在使用该线性灯源时及该同轴灯源时，该观测单元均能以明视野观测。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种观测系统，特别是涉及一种具有同轴灯源与线性灯源的观测系统。
技术介绍
影像检测设备或光学显微镜具有一个观测系统，该观测系统会因所欲观察的待测物的特性，而采用不同的照明装置。如图I所示，一种供观测一个待测物91的观测系统92，包含位于该待测物91的一侧的一个同轴灯源93、一个线性灯源94、一个半穿反透镜95及一个观测单元96。该同轴灯源93为面光源，具有一个发光表面Tl及一个与该待测物91的一待测平面T2平行的第一光学轴Ml，该半穿反透镜95与该发光表面Tl夹45度，且夹角开口朝向该·待测平面T2。一并参阅图2，该同轴灯源93发出的光线先经该半穿反透镜95反射至该待测物91，并自该待测物91反射后再透射经该半穿反透镜95而到达该观测单元96。该线性灯源94具有一根通过该待测物91的第二光学轴M2，该第二光学轴M2与一根通过该待测物91且垂直该待测平面T2的法线夹一个入射角SI。一并参阅图3，该线性灯源94发出的光线先透射经该半穿反透镜95而照射该待测物91，并自该待测物91反射后再透射经该半穿反透镜95而到达该观测单元96。该观测单元96例如是一影像撷取装置，其朝向该待本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种观测系统，适用于观测一个待测物，其特征在于：该观测系统包含位于该待测物的一侧的一个同轴灯源、一个线性灯源、一个半穿反透镜及一个观测单元；该同轴灯源为面光源，包括一个发光表面及一根与该待测物的一个待测平面平行的第一光学轴，并沿该第一光学轴朝该待测物发出光线；该线性灯源包括一根通过该待测物的第二光学轴，该第二光学轴与一根通过该待测物且垂直该待测平面的法线夹一个入射角；该半穿反透镜与该发光表面夹45度，且夹角开口朝向该待测平面；该观测单元朝向该待测物且沿一根第三光学轴取像，该第三光学轴通过该待测物并与该法线夹一个与该入射角大小相同的反射角，该同轴灯源发出的光线先经该半穿反透镜反射至该待测物，并自...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈登文，江庆原，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：