扫描3D成像仪制造技术

一种扫描3D成像仪，用于记录场景的图像，所述成像仪包括光源、扫描镜、以及成像仪芯片；所述光源配置为发射具有线性截面的扇形脉冲光束；所述扫描镜设置在所述光束的光路中，以引导所述光束进入所述场景，并且通过将所述光束横切于其所述线性截面扫过所述场景来相继照亮所述场景的切片；设置所述成像仪芯片以经由所述扫描镜接收来自所述场景的光，所述成像仪芯片包括光电传感器阵列，所述光电传感器阵列以所述场景的所述照亮切片在其上相继成像的方式设置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种扫描3D成像仪，特别是这种根据飞行时间(ToF)测量原理进行操作的成像仪。
技术介绍
用于产生空间给定部分的三维(3D)表示的系统在许多不同领域中具有多种潜在的应用。仅举几例，示例为汽车传感器技术(例如车辆乘客检测和/或分类)，自动化技术，或监视技术(例如工厂监控、人数统计、访问控制以及行人检测)。根据ToF距离测量原理，将光信号发射至感兴趣的场景且测量发射信号的回波(echo-return)与发射之间的时间。对应距离与测量的飞行时间成比例。为了本专利技术描述的目的，术语“光”可理解为包括可见光、红外(IR)光以及紫外线(UV)光。 现今，存在使用ToF测量原理的不同的3D成像技术。下文中将对它们进行简要介绍。3D 相机自1994年根据Seitz和Spirig的工作已知基于飞行时间距离测量的单目3D相机，例如参见DE 4440613。Seitz和Spirig提出了将场景成像的特殊图像传感器矩阵。该矩阵中的每个像素执行由调制光源发射的(正弦的)振幅调制光与由观测下的场景反射的振幅调制光之间的相移的测量。该技术有时也称为“相移技术”。这种模拟ToF测量技术有许多测量误本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.05.17 LU 916881.扫描3D成像仪，用于记录场景的图像，所述成像仪包括 光源，所述光源配置为发射具有线性截面的扇形脉冲光束； 扫描镜，所述扫描镜设置在所述光束的光路中，以引导所述光束进入所述场景，并且通过将所述光束横切于所述线性截面扫过所述场景来相继照亮所述场景的切片；以及 成像仪芯片，设置所述成像仪芯片以经由所述扫描镜接收来自所述场景的光，所述成像仪芯片包括光电传感器阵列，所述光电传感器阵列以所述场景的所述照亮切片在其上相继成像的方式设置。2.根据权利要求I所述的成像仪，其中，所述光电传感器阵列是线性光电传感器阵列。3.根据权利要求I所述的成像仪，其中，所述光电传感器阵列包括至少两个，优选为两个，彼此平行设置的线性光电传感器阵列。4.根据权利要求I至3中任一项所述的成像仪，其中，所述光电传感器阵列包括雪崩二极管阵列。5.根据权利要求I至4中任一项所述的成像仪，其中，所述扫描镜包括微机械镜。6.根据权利要求I至5中任一项所述的成像仪，包括用于将来自所述场景的光偏转至所...

【专利技术属性】
技术研发人员：L·费德施皮尔，
申请(专利权)人：IEE国际电子工程股份公司，
类型：
国别省市：