基于线阵列紫外光探测器的玻璃几何参数测量系统技术方案

技术编号:8363846 阅读:177 留言:0更新日期:2013-02-27 21:16
基于线阵列紫外光探测器的玻璃几何参数测量系统,包括加热炉、设置在加热炉两侧的上片台、钢化冷却段和下片台、控制系统,还设有紫外光检测机构,由输出紫外光线的光源和用于扑捉紫外光信号并转化为可用信号的信号采集器组成,本发明专利技术基于普通玻璃对紫外光的衰减特性,通过滤光窗口和大规模光电探测器阵列对穿过玻璃后的光强度进行探测,从而形成与玻璃外形轮廓匹配的光衰减区域,达到玻璃几何参数测量的目的;该系统中的检测机构采用一体化设计,结构紧凑,方便安装,与其他加工装置配套安装适应强,而且在检测过程中,该检测系统通过对可见光双重过滤,可以有效地滤除可见光,避免外界光线变化对系统的影响,提高型号识别的正确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于玻璃几何参数的测量系统,具体涉及一种基于线阵列紫外光探测器的玻璃几何参数测量系统
技术介绍
目前,玻璃行业逐渐采用光源结合相机对玻璃的综合几何参数进行测量以达到在生产过程中实施监控的目的,例如,已公开专利用于监控安全玻璃生产和控制加工过程的方法和设备,该方法及设备利用高强度光源照射在被测玻璃表面,相机在通过接受反射的光强度信号来分析相关的数据,该方法中所具有的缺点是其一、在使用过程中对光的入射角度和检测面的角度有特殊要求,当设置角度存在偏差时,测量所得到的数据也存在较大误差;其二、该设备测量过程中易受到外界可见光的影响,这将导致测量的数据不精确。
技术实现思路
为了克服现有技术存在的不足,本专利技术所要解决的技术问题是提供一种基于线阵列紫外光探测器的玻璃几何参数测量系统,该测量系统适应性强,而且测量过程中可有效避免外界光线变化对系统测量精度的影响,提高玻璃型号识别的正确率。本专利技术所采用的技术方案为基于线阵列紫外光探测器的玻璃几何参数测量系统,包括对玻璃进行钢化处理的加热炉、设置在加热炉两侧的上片台、钢化冷却段和下片台、用于控制钢化炉工作过程的控制系统,在上本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于线阵列紫外光探测器的玻璃几何参数测量系统,包括对玻璃进行钢化加工处理的加热炉(2)、设置在加热炉(2)两侧的上片台(3)、钢化冷却段(4)和下片台(5)、用于控制钢化炉工作过程的控制系统,在上片台(3)和下片台(5)上分别设有辊道传送机构(6),辊道传送机构(6)上设有多个辊道,通过辊道的转动带动被检测玻璃在上片台(3)和下片台(5)上移动,其特征在于;还设有紫外光检测机构,紫外光检测机构由输出波长在200~360nm之间的紫外光线的光源(7)和用于捕捉紫外光信号并转化为可用信号的信号采集器(8)组成,所述的信号采集器(8)设有一壳体,壳体前端设有滤波窗口,滤波窗口具有200nm?410n...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李彦兵刘宾
申请(专利权)人:洛阳兰迪玻璃机器股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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