多路时钟测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开一种多路时钟测试仪，其特征在于：包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口，恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号，多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入被测时钟信号，FPGA测量芯片与主控MCU相连，温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口分别与主控MCU连接，电源电路为各部分提供工作电源。本实用新型专利技术提供的这种多路时钟测试仪为高精度地检测、校准多路时钟提供了有力的设备保障，大大提高了检测、校准批量时钟的效率，解决了现代化大规模生产的技术瓶颈。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

多路时钟测试仪
本技术涉及电子电路
，具体涉及一种多路时钟测试仪。
技术介绍
目前市面上的时钟测试仪都仅支持单路时钟测量，在保证高精度测量的前提下， 无法同步、实时地测量多路时钟，这种缺陷使得用户一次只能检测、校准一路时钟误差，效率非常低下，不能满足现代化大规模生产的需要，市场急需一种能对多路时钟进行高精度地检验、校准的仪器。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种能对多路时钟进行高精度地检验、校准的仪器。上述目的由以下技术方案实现一种多路时钟测试仪，其特征在于包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、 FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口，恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号，多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入被测时钟信号，FPGA测量芯片与主控MCU相连，温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口分别与主控MCU连接，电源电路为各部分提供工作电源。所述恒温晶体为精度高于O. IPPM的高频恒温晶体。所述多路时钟调理电路具有二十四路被测时钟信号输入通道。所述温度传感器为分辨率达O. 0625 °C的测温芯片。所述主控MCU为16位MCU本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多路时钟测试仪，其特征在于：包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口，恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号，多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入被测时钟信号，FPGA测量芯片与主控MCU相连，温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口分别与主控MCU连接，电源电路为各部分提供工作电源。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：任智仁，黄杰，周弼，张亮，周宣，
申请(专利权)人：珠海中慧微电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：