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多路时钟测试仪制造技术
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文档序号:8359225
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本实用新型公开一种多路时钟测试仪,其特征在于:包括电源电路、恒温晶体、多路时钟调理电路、FPGA测量芯片、主控MCU、温度传感器、按键电路、显示单元及通讯接口,恒温晶体为FPGA芯片提供标准时钟源信号,多路时钟调理电路为FPGA测量芯片输入...
该专利属于珠海中慧微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过珠海中慧微电子有限公司授权不得商用。
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