基于双阈值二值化的在线式AOI图像检索方法技术

本发明专利技术提供了一种基于双阈值二值化的在线式AOI图像检索方法，包括以下步骤：S1、获取标准PCB板的位置图像；S2、对位置图像进行灰度化处理，得到灰度模板图像；S3、对灰度模板图像进行双阈值二值化处理，得到模板图像；S4、获取待检测PCB板的位置图像，并根据步骤S3中设定的双阈值获取所述模板图像所对应的搜索区域图像；S5、将搜索区域图像与模板图像进行匹配，以搜索出与模板图像匹配度最大的位置点。通过双阈值二值化处理，可降低位置图像的灰度值，使电子元件所在的目标区域更加凸出，且可有效地降低运算量，提高运算速度，从而降低了AOI软件在图像识别时的漏报率与误报率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及SMT
，尤其涉及一种基于双阈值二值化的在线式AOI图像检索方法。
技术介绍
自动光学检测(Automatic Optic Inspection, AOI),是基于光学原理来对PCB板焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的方法。它是近几年来兴起的一种SMT检测技术。随着SMT行业的迅速发展，元器件尺寸正朝着微型化、密集型方向发展，这使得人工目测方式检测PCB板上元件的缺陷显得力不从心，靠人工去检测效率较低，而且费时费力。传统的一些检测技术，如在线测试仪已经不能适应SMT发展的要求。所以AOI技术是为适应SMT发展的要求而产生的。目前现有的AOI软件在检测目标元件时都存在漏报和误报问题，造成此原因涉及两个方面的问题采集图像时所采用的光源和软件中所采用的检测算法。第一个方面所存在的问题随着高清晰、高分辨率CCD和扫描设备的出现，大多数 AOI制造商已经开始根据自身的实际情况做出相应的改进，如采用30(Γ500万像素的CXD即可采集到现有最小封装尺寸01005元件的清晰图像。第二个问题是AOI软件检测算法，由于各个厂商所采用的算法不尽相同，所以检测的效果也有所区别。目前大本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于双阈值二值化的在线式AOI图像检索方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取标准PCB板的位置图像；S2、对位置图像进行灰度化处理，得到灰度模板图像；S3、对灰度模板图像进行双阈值二值化处理，得到模板图像；S4、获取待检测PCB板的位置图像，并根据步骤S3中设定的双阈值获取所述模板图像所对应的搜索区域图像；S5、将搜索区域图像与模板图像进行匹配，以搜索出与模板图像匹配度最大的位置点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：何冰，葛春平，王菊霞，李国强，
申请(专利权)人：渭南师范学院，
类型：发明
国别省市：