一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置制造方法及图纸

技术编号:8347459 阅读:627 留言:0更新日期:2013-02-20 23:51
本发明专利技术实施例公开了一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置。所述装置包括X射线源、限束器、测试器件、闪烁屏、光学组件和光电转换器件,其中所述X射线源用于产生具有特定能谱和发散角的X射线;所述限束器固定在所述X射线源的出口处;所述测试器件固定在所述限束器和所述闪烁屏之间;所述光学组件用于将所述闪烁屏输出的可见光成像在所述光电转换器件上;该光学组件包括可调式透镜组,该可调式透镜组与所述光电转换器件的相对距离能在一定范围内调节;所述光电转换器件用于探测所述闪烁屏的输出光,并将其转换为电信号。所述装置能够在不同探测面积和像素密度的成像条件之间灵活调整,同时测量闪烁屏的调制传递函数、发光不均匀性和发光强度等参数,具有测量精度高、适用范围广、使用灵活方便和成本低廉的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射线成像设备
,尤其涉及一种针对X射线闪烁屏的性能测试>J-U ρ α装直。
技术介绍
目前,在射线成像设备中,闪烁屏是X射线成像系统的重要部件之一,广泛应用于医疗诊断、工业无损检测、安全检测等领域。其原理是由X射线源产生的X射线经被测物体后强度衰减并入射到闪烁屏,X射线的能量被闪烁屏内的光敏材料吸收并在吸收能量处发射出一定数量的低能光子(主要为可见光波段),低能光子的数量与X射线的强度成正比,故低能光子穿透闪烁屏后输出的强度空间分布与入射X射线的强度空间分布相关,进而反映了被测物体的结构信息。闪烁屏除发光强度(或光产额)、发光不均匀性等基本参数外,调制传递函数全面反映了成像系统的空间分辨能力,是表征系统分辨能力的关键参数,其定义为成像系统的输入图像的对比度与输出图像对比度的比值,表示成像系统对不同空间频率信号的传递效率,低空间频率处的调制传递函数的值表示成像系统对轮廓的还原能力,高空间频率处的调制传递函数的值表示成像系统对细节的还原能力。现有技术中调制传递函数的测量方法如下获取刀口或者狭缝在成像系统中的图像数据,对图像数据做处理后得到线扩展函数,线扩展函本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种针对X射线闪烁屏的性能测试装置,其特征在于,所述装置包括X射线源、限束器、测试器件、闪烁屏、光学组件和光电转换器件,其中:所述X射线源用于产生具有特定能谱和发散角的X射线;所述限束器固定在所述X射线源的出口处,用于控制X射线的辐射区域;所述测试器件固定在所述限束器和所述闪烁屏之间,用于屏蔽部分X射线以在所述闪烁屏上形成刀口边缘图像;所述光学组件用于将所述闪烁屏输出的可见光成像在所述光电转换器件上;该光学组件包括可调式透镜组,所述可调式透镜组将所述闪烁屏输出的可见光对焦至所述光电转换器件的成像面,且该可调式透镜组与所述光电转换器件的相对距离能在一定范围内调节;所述光电转换器件用于探测所述闪烁...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:赵博震秦秀波杨胜宇魏存峰魏龙
申请(专利权)人:中国科学院高能物理研究所
类型:发明
国别省市:

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