一种光纤Shupe常数测试装置及其方法制造方法及图纸

技术编号:8299924 阅读:229 留言:0更新日期:2013-02-07 02:29
本发明专利技术公开了一种光纤Shupe常数的测试装置及其方法。该装置包括激光光源,密闭恒温减振系统,温度控制系统,光探测器,数字信号处理系统,包括光纤耦合器、参考臂、测量臂、被测光纤和法拉第转镜的迈克尔逊干涉光路。激光光源发出的光经光纤耦合器均分为两束分别进入参考臂和测量臂,并被远端法拉第转镜反射后返回,经光纤耦合器进入光探测器,得到干涉信号。该方法采用上述装置,通过升温-恒温监测-被动冷却降温的方式对光纤变温进行控制,得到实验数据,从而得到Shupe常数。本发明专利技术结构简单、测量精度高、可靠性好;设计采用全光纤结构,抗干扰能力强;可在光纤陀螺绕环前单独测量光纤的Shupe常数,评价光纤环全温稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及提高保偏光纤陀螺精度的
,具体涉及。
技术介绍
光纤陀螺是利用萨格奈克(Sagnac)效应测量物体转动角速度的一种高精度传感器,是一种结构简单、成本低、潜在精度较高的新型全固态惯性器件,将成为惯性导航和战略应用领域的主要仪表。温度漂移是光纤陀螺中最棘手的问题。光纤陀螺线圈中,一段光纤存在着温度变化扰动时,将导致光纤折射率、光纤长度、横截面几何结构以及内部应力分布发生变化。除非这段光纤位于线圈中部,否则两束反向传播光波在不同时间经过这段光纤,将因温度扰动而经历不同的相移。这种温度引起的非互易相移称为Shupe误差,它与旋转引起的萨格奈克相移无法区分,导致在光纤陀螺中产生偏置误差,限制了光纤陀螺精度的提高。工程中广泛采用四级对称绕环方法加工光纤陀螺线圈,以减小Shupe误差。理论证明采用四级对称绕环方法可以抑制温度效应的影响,将Shupe误差减小3个数量级。但是实际应用中,由于光纤环绕制的非理想性,将产生绕环偏离中点、布纤不均匀、局部突变等绕环误差,使得温度漂移不能被完全消除。因此,在提高四级对称绕法精度的基础上,降低绕环用光纤的Shupe常数可以进一步有效降低温度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光纤Shupe常数测试装置,其特征在于,该装置包括如下器件:激光光源(1)、迈克尔逊干涉光路(2)、密闭恒温减振系统(8)、温度控制系统(9)、光探测器(10)和数字信号处理系统(11);迈克尔逊干涉光路(2)包括光纤耦合器(3)、参考臂(4)、测量臂(5)、被测光纤(6)和法拉第转镜(7);被测光纤(6)放置在温度控制系统(9)中,光纤耦合器(3)、参考臂(4)、测量臂(5)和法拉第转镜(7)放置在密闭恒温减振系统(8)中;激光光源(1)和光探测器(10)分别通过光纤连接光纤耦合器(3),被测光纤(6)采用尾纤熔接方式或者光纤适配器即插即用方式接入测量臂(5),位于密闭恒温减振系统(8)...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:宋凝芳李帅宋镜明徐宏杰杨德伟姜漫
申请(专利权)人:北京航空航天大学
类型:发明
国别省市:

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