【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种零件非导电性测试装置，特别涉及一种真空镀膜件非导电性测试装置。
技术介绍
真空镀膜的技术被广泛的运用在现代手机注塑物的制造中，真空镀膜的技术会使注塑物表面产生一些导电性，导电性会影响到手机通讯的性能，造成手机信号不良。因此我们需要测量手机注塑物中的非导电程度，我们平常会人手直接应用兆欧表在1000V电压下进行夹持测试，测试效率低，而且在这样高电压下检测，如果操作人员进行误操作有可能造成人身伤害。
技术实现思路
鉴于以上存在的问题，提供一种真空镀膜件非导电性测试装置，具体技术方案是，真空镀膜件非导电性测试装置，包括兆欧表、插件座和导线，其特征在于插件座上有一个短凹槽和一个长凹槽，在每个凹槽内底端面有两个触点，分别为Al触点、A2触点和BI触点、B2触点，在插件座上有导线孔；其连接为，一根导线经由导线孔使Al触点、BI触点和兆欧表的一个接线端相连，另一根导线经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表的另一个接线端相连。有益效果是减小了高电压测试下误操作带来的危害，使用方便，大大提高了测试效率。附图说明图I是本技术结构示意图。具体实施方式兆欧表I选用胜利仪器厂型号为VC60B+。如图I所示，插件座2上有一个短凹槽4、一个长凹槽5，在短凹槽4内底端面有两个触点分别为Al触点、A2触点，在长凹槽5内底端面也有两个触点分别为BI触点、B2触点，在插件座2侧面有导线孔6 ;其连接为，一根导线3经由导线孔使Al触点、BI触点和兆欧表I的一个接线端相连，另一根导线3经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表I的另一个接线端相连。测试时，手机壳注塑件的长边放置在长凹槽5...
【技术保护点】
一种真空镀膜件非导电性测试装置，包括兆欧表（1）、插件座（2）和导线（3），其特征在于：插件座（2）上有一个短凹槽（4）和一个长凹槽（5），在短凹槽（4）内底端面有两个触点分别为A1触点、A2触点，在长凹槽（5）内底端面也有两个触点分别为B1触点、B2触点，在插件座（2）上有导线孔（6），其连接为，一根导线（3）经由导线孔使A1触点、B1触点和兆欧表（1）的一个接线端相连，另一根导线（3）经由导线孔使A2触点、B2触点和兆欧表（1）的另一个接线端相连。
【技术特征摘要】
1.一种真空镀膜件非导电性测试装置，包括兆欧表(I)、插件座(2)和导线(3)，其特征在于插件座(2)上有一个短凹槽(4)和一个长凹槽(5)，在短凹槽(4)内底端面有两个触点分别为Al触点、A2触点，在长凹槽(5)内底端面也有两...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟荣，张晓亚，
申请(专利权)人：亚光耐普罗精密注塑天津有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。