本发明专利技术公开了一种阵列图形检测的方法，包括：根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征是否一致，若是，则存储当前帧中的阵列图形；若否，则将当前帧中的阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。本发明专利技术还提供了相应的装置。采用本发明专利技术所公开的方案，无需通过任何模板，也不需要对阵列图形进行精确匹配，即可实现对阵列图形缺陷的提取；并且能够减少阵列图形的检测过程中误判发生的情况，从而使得检测效率高，适合在线检测要求。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及到图形检测领域，特别涉及到一种阵列图形检测的方法和装置。
技术介绍
随着大规模工业生产的发展，对产品质量的控制要求越来越高，传统利用人眼对产品进行检测的方式已远远不能满足现代工业生产的需求，利用机器视觉取代人眼来对产品进行缺陷检测以及质量控制已经是大势所趋，而在多种类型的工业产品中，存在大量重复性阵列图形的产品占有相当大的比重(例如曝光后的液晶面板)。目前常用的两种针对阵列图形缺陷检测有两种方法方法一阵列图形单元模板匹配法利用单一阵列图形单元的完好图像或者CAD 图形作为标准模板，与待测阵列图形产品中每一个单元进行比较，存在缺陷的区域由于与标准模板不同而被检测出来。但是，采用这种方法，由于标准单元模板单一，因此对产品中细微变化的适应性比较差，极易发生将正常区域识别为缺陷造成误判的情况。方法二 全局模板匹配法利用完整产品的完好图像或者CAD图形作为标准模板， 与整个待测产品进行比较，存在缺陷的区域由于与模板不同而被检测出来。但是，采用这种方法，由于模板单一，对产品细微变化等变化敏感，特别是在光照条件的变化以及产品出现细微变形的情况下，对图像采集一致性要求高；并且模板需要与采集的图像精确配准才能得到正确结果。
技术实现思路
本专利技术的主要目的为提供一种阵列图形检测的方法和装置，旨在实现无需任何模板，也不需要精确匹配即可实现对阵列图形的缺陷提取；并且能够减少阵列图形的检测过程中误判发生的情况，从而使得检测效率高，适合在线检测要求。本专利技术提供一种阵列图形检测的方法，包括根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致，若是， 则存储当前帧中的阵列图形；若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。优选地，在执行所述根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征之前，还包括根据阵列图形的速度和准确性要求，设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。优选地，当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时判定所述当前帧为正常帧，存储当前帧中的阵列图形，作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。优选地，当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷，将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比；根据对比结果，提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置；输出所述缺陷位置。本专利技术还提供一种阵列图形检测的装置，包括提取模块，用于根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断模块，用于判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致；存储模块，用于若是，则存储当前帧中的阵列图形；对比及输出模块，用于若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。优选地，阵列图形检测的装置还包括设定模块，用于根据阵列图形的速度和准确性要求，设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。优选地，所述存储模块用于当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时，判定所述当前帧为正常帧，存储当前帧中的阵列图形，作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。优选地，，所述对比及输出模块包括对比单元，用于当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时，判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷，将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比；提取单元，用于根据对比结果，提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置；输出单元，用于输出所述缺陷位置。本专利技术通过预设图形几何参数，当对阵列图形的产品进行检测时，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断所提取的实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征是否一致，并在一致时存储当前帧中的阵列图形，而当不一致时，将当前帧中的阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，并根据对比结果输出缺陷位置。采用这种方法，无需通过任何模板，也不需要对阵列图形进行精确匹配，即可实现对阵列图形缺陷的提取；并且能够减少阵列图形的检测过程中误判发生的情况，从而使得检测效率高，适合在线检测要求。附图说明图I为本专利技术阵列图形检测的方法一实施例的流程示意图2为本专利技术阵列图形检测的方法又一实施例的流程示意图3为本专利技术阵列图形检测的方法中提取并输出缺陷位置的流程示意图4为本专利技术阵列图形检测的装置一施例的结构示意图5为本专利技术阵列图形检测的装置又一施例的结构示意图6为本专利技术阵列图形检测的装置中对比及输出模块的结构示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。 本专利技术提供一种阵列图形缺陷检测方法。参照图1，图I为本专利技术阵列图形检测的方法一实施例的流程示意图。本实施例所提供的阵列图形缺陷检测方法，包括步骤S10，根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；在本实施例中，当需要对当前帧中的阵列图形进行缺陷检测时，首先根据事先所预设的图形几何参数，在当前帧的阵列图形中提取与图形几何参数所对应的实际图形几何特征。步骤S20，判断实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征是否一致，若是， 则执行步骤S21 ;若否，则执行步骤S22 ；步骤S21，存储当前帧中的阵列图形；步骤S22，将当前帧中的阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。当在当前帧的阵列图形中提取与图形几何参数所对应的实际图形几何特征后，判断所提取出的实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征是否一致。如判断出实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征一致，则将该当前帧中的阵列图形进行存储；而如判断出实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征不一致，则阵列图形存在缺陷， 此时需要将当前帧中的阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，对比的目的是确定缺陷位置，当确定了阵列图形出现缺陷的缺陷位置后，输出该缺陷位置。本专利技术实施例，通过预设图形几何参数，当对阵列图形的产品进行检测时，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断所提取的实际图形几何特征与预设的图形几何参数的特征是否一致，并在一致时存储当前帧中的阵列图形，而当不一致时，将当前帧中的阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，并根据对比结果输出缺陷位置。采用这种方法，无需通过任何模板，也不需要对阵列图形进行精确匹配，即可实现对阵列图形缺陷的提取；并且能够减少阵列图形的检测过程中误判发生的情况，从而使得检测效率高，适合在线检测要求。参照图2，图2为本专利技术阵列图形检测的方法又一实施例的流程示意图。在上述实施例的基础上，在执行步骤SlO之前，阵列图形检测的方法还包括步骤S00，根据阵列图形的速度和准确性要求，设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数。在本实施例中，在提取当前帧的阵列图形中的实际图形几何特征之前，对用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几何参数进行设定。本实施例中，可以根据实际需求进行不同的设置，即根据实际对阵列图形的速度和准确性要求，设定该图形几何参数，其可以包本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种阵列图形检测的方法，其特征在于，包括：根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征；判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致，若是，则存储当前帧中的阵列图形；若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。
【技术特征摘要】
1.一种阵列图形检测的方法，其特征在于，包括 根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征； 判断所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征是否一致，若是，则存储当前帧中的阵列图形； 若否，则将当前帧中的所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比，根据对比结果输出缺陷位置。2.如权利要求I所述的阵列图形检测的方法，其特征在于，在执行所述根据预设的图形几何参数，提取当前帧中阵列图形的实际图形几何特征之前，还包括 根据阵列图形的速度和准确性要求，设定用于与当前帧中阵列图形进行比较的图形几 何参数。3.如权利要求2所述的阵列图形检测的方法，其特征在于，当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征一致时 判定所述当前帧为正常帧，存储当前帧中的阵列图形，作为用于与存在缺陷的阵列图形比较的比较图形。4.如权利要求I至3中任一项所述的阵列图形检测的方法，其特征在于，当判断出所述实际图形几何特征与所述预设的图形几何参数的特征不一致时 判定所述当前帧的阵列图形存在缺陷，将所述阵列图形与之前所存储的比较图形进行对比； 根据对比结果，提取出缺陷位置在所述阵列图形中的位置； 输出所述缺陷位置。(加装置不会缩小专利的保护范围)。5.一种阵列图形检测的装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：许杰，
申请(专利权)人：深圳市纳研科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。