【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及的是一种光纤测量装置，具体涉及到一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试系统。
技术介绍
光学相干域偏振测量技术(OCDP)是一种高精度分布式偏振耦合测量技术，它基于宽谱光干涉原理，通过扫描式光学干涉仪进行光程补偿，实现不同偏振模式间的干涉，可对偏振串扰的空间位置、偏振耦合信号强度进行高精度的测量与分析，进而获得光学偏振器件的消光比、拍长等重要参数。OCDP技术作为一种非常有前途的分布式光学偏振性能的检测方法，被广泛用于保偏光纤制造、保偏光纤精确对轴、器件消光比测试等领域。与其他如偏振时域反射技术(P0TDR)、光频域反射技术(0FDR)、光相干域反射技术(OCDR)等分布式检测方法与技术相比，OCDP技术具有结构简单、高空间分辨率(5 10cm)、大测量范围(测量长度几公里)、超高测量灵敏度(耦合能量-80 -100(^)、超大动态范围(108 1010)等优点，非常有希望发展成为一种高精度、通用测试技术和系统。由于它最为直接和真实地描述了信号光在光纤光路中的传输行为，所以特别适合于对光纤器件、组件，以及光纤陀螺等高精度、超高精度干涉型光纤传感光路进...
【技术保护点】
一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置，包括宽谱光源（501）、起偏器（511）、待测偏振器件（522）、光程相关器（530）、差分探测装置（550）、光电信号转换与信号记录装置（560），其特征是：宽谱光源（501）通过起偏器（511）、第1旋转连接器（521）与待测光纤器件（522）连接，再通过第2旋转连接器（523）与偏振分束Michelson结构光程相关器（530）连接；光程相关器（530）通过第3旋转连接器（541）连接偏振差分探测装置（550）后，与干涉信号检测与处理装置（560）再连接；旋转第1旋转连接器（521），使起偏器（511）的输出尾纤与待测光纤器件...
【技术特征摘要】
1.一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置，包括宽谱光源(501)、起偏器(511)、待测偏振器件(522)、光程相关器(530)、差分探测装置(550)、光电信号转换与信号记录装置(560)，其特征是宽谱光源(501)通过起偏器(511)、第I旋转连接器(521)与待测光纤器件(522)连接，再通过第2旋转连接器(523)与偏振分束Michelson结构光程相关器(530)连接；光程相关器(530)通过第3旋转连接器(541)连接偏振差分探测装置(550)后，与干涉信号检测与处理装置(560 )再连接；旋转第I旋转连接器(521)，使起偏器(511)的输出尾纤与待测光纤器件(522)的输入尾纤偏振特征轴完成0° 0°对准；旋转第3旋转连接器，使光程相关器(530)的输出尾纤与偏振差分探测装置(550)的输入尾纤的偏振特征轴实现0° ^45°对准角；旋转第2旋转连接器，使待测偏振器件(522)的输出尾纤与光程相关器(530)的输入尾纤的偏振特征轴分别实现0° 0°以及0° 45°对准。2.根据权利要求I所述的光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置，其特征是所述光程相关器(530)由2X2偏振分束器(531)、两根保偏光纤(532、534)、法拉第旋转反射镜(533)、法拉第旋转器(535)、自聚焦准直透镜(536)，以及可移动光学反射镜(537)组成；偏振分束器(531)的第I输出端(ps3)通过第I保偏光纤(532)连接法拉第旋转反射镜(533)，组成固定长度光程参考臂(I1);偏振分束器(531)的第2输出端(ps...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨军，苑勇贵，彭峰，柴俊，苑立波，
申请(专利权)人：哈尔滨工程大学，
类型：发明
国别省市：
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