一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供的是一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法。包括宽谱光源（301）、起偏器（311）、待测偏振器件（632）、光程相关器（640）、偏振串扰检测与信号记录装置（150），宽谱光源（301）通过起偏器（311）、第1旋转连接器（631）与待测光纤器件（632）连接后，再通过第2旋转连接器（633）与光程相关器（640）连接。本发明专利技术可以极大地抑制噪声幅度，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是一种于光纤测量装置，本专利技术也涉及一种于光纤测量方法。具体涉及到一种提高光学器件偏振串扰测量性能的方法与装置。
技术介绍
偏振光学器件是构成高精度光学测量与传感系统的重要组成部分，目前光学器件性能测试与评价方法和装置落后的现状，严重阻碍了高精度光学测量与传感系统的发展。例如高精度光纤陀螺的核心器件——铌酸锂集成波导调制器(俗称Y波导)的芯片消光比已经达到SOdB以上；而常用的偏振性能检测仪器一消光比测试仪，通常的检测分辨率在50dB左右(按照能量定义，即为105)，分辨率最高的为美国dBm Optics公司研制Model4810型偏振消光比，测量仪测量极限也仅有72dB。光学相干域偏振测量技术(OCDP)是一种高精度分布式偏振耦合测量技术，它基于宽谱光干涉原理，通过扫描式光学干涉仪进行光程补偿，实现不同偏振模式间的干涉，可对偏振串扰的空间位置、偏振耦合信号强度进行高精度的测量与分析，进而获得光学偏振器件的消光比、拍长等重要参数。OCDP技术作为一种非常有前途的分布式光学偏振性能的检测方法，被广泛用于保偏光纤制造、保偏光纤精确对轴、器件消光比测试等领域。与其他如偏本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置，包括宽谱光源（301）、起偏器（311）、待测偏振器件（632）、光程相关器（640）、偏振串扰检测与信号记录装置（150），其特征是：（1）宽谱光源（301）通过起偏器（311）、第1旋转连接器（631）与待测光纤器件（632）连接后，再通过第2旋转连接器（633）与光程相关器（640）连接；（2）所述光程相关器（640）由1×2偏振分束器（641）、三端口环形器（645）、自聚焦准直透镜（647）、可移动光学反射镜（648）、2×2光纤耦合器（649）、第1光电探测器（651）、第2光电探测器（652）组成；偏振分束器（641）的第1输出端（ps2）...

【技术特征摘要】
1.一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置，包括宽谱光源(301)、起偏器(311)、 待测偏振器件(632)、光程相关器(640)、偏振串扰检测与信号记录装置(150)，其特征是Cl)宽谱光源(301)通过起偏器(311)、第I旋转连接器(631)与待测光纤器件(632)连接后，再通过第2旋转连接器(633)与光程相关器(640)连接；(2 )所述光程相关器(640 )由I X 2偏振分束器(641 )、三端口环形器(645 )、自聚焦准直透镜(647)、可移动光学反射镜(648)、2X2光纤稱合器(649)、第I光电探测器(651)、第2光电探测器(652)组成；偏振分束器(641)的第I输出端(ps2)连接光纤稱合器(649)的第I输入端(Cl)，组成固定长度光程相关参考臂(ps2+cl);偏振分束器(641)的第2输出端(ps3)连接环形器(645)的输入端(crI),环形器(645)的第I输出端(cr2)连接准直透镜(647)和可移动光学反射镜(648);环形器(645)的第2输出端(cr3)连接稱合器(649)的第2输入端(c2),组成光纤长度可变的光程相关扫描臂(ps3+crl+2cr2+2grl+2x+cr3+c2);光纤耦合器(649)的第I、第2输出端(c3、c4)分别连接第I、第2探测器(651、652);第I、第2探测器(651、652)、可移动光学反射镜(648)分别与偏振串扰检测与信号记录装置(150)连接；(3)线偏振光信号注入到1X2偏振分束器(641)的第I输入尾纤(psl)的慢轴中，信号光仅从第I输出尾纤(ps2)的慢轴中输出；注入到第I输入尾纤(psl)的快轴中，仅从第2输出尾纤(ps3)的慢轴中输出。2.根据权利要求I所述的提高光学器件偏振串扰测量性能的装置，其特征是 第I旋转连接器(631)连接起偏器(311)和待测光纤器件(632)，并使二者的光纤偏振特征轴保持对准状态，将经过起偏的宽谱光源(301)的输出光注入到待测光纤器件(632)的一个偏振特征轴中；第2旋转连接器(633)连接待测光纤器件(632)和光程相关器(640)的输入端(psl)时，二者的偏振特征轴存在对准和夹角45°两种状态。3.根据权利要求I或2所述的提高光学器件偏振串扰测量性能的装置，其特征是:可移动光学反射镜(648)处于运动起点位置时，光程相关器(640)的光程相关参考臂(ps2+cl)的绝对光程略大于光程相关扫描臂(ps3+crl+2cr2+2grl+2x+cr3+c2);可移动光学反射镜(648)连续移动的范围(X)大于待测光学器件耦合光与传输光之间的最大光程差巳4.根据权利要求I或2所述的提高光学器件偏振串扰测量性能的装置，其特征是所述起偏器(311)、第I旋转连接器(631)、第2旋转连接器(633)、待测光纤器件(632)、光程相关器(640)、第I探测器(651)、第2探测器(652)的波长工作范围能够覆盖宽谱光源(301)的发射光谱；起偏器(311)的输出尾纤、偏振分束器(641)输入尾纤(psl)、偏振分束器(641)的第I和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨军，苑勇贵，彭峰，苑立波，
申请(专利权)人：哈尔滨工程大学，
类型：发明
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