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一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法制造方法及图纸
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下载一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法的技术资料
文档序号:8321762
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本发明提供的是一种提高光学器件偏振串扰测量性能的装置及方法。包括宽谱光源(301)、起偏器(311)、待测偏振器件(632)、光程相关器(640)、偏振串扰检测与信号记录装置(150),宽谱光源(301)通过起偏器(311)、第1旋转连接器...
该专利属于哈尔滨工程大学所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工程大学授权不得商用。
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