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本发明提供的是一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置。包括宽谱光源（501）、起偏器（511）、待测偏振器件（522）、光程相关器（530）、差分探测装置（550）、光电信号转换与信号记录装置（560），宽谱光源（501）通过起偏器（51...
该专利属于哈尔滨工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工程大学授权不得商用。

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