偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法制造方法及图纸

偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法，光学装置（3）具有对透过光进行检测并射出的检光部（314），该透过光是从光源（300）射出并由第2偏振部（308）进行转换后的线偏振光透过被检体（S）后的光。并且光学装置（3）具有；对来自检光部（314）的出射光进行垂直分离的垂直分离部（316）、和接收由垂直分离部（316）进行垂直分离后的光的受光部（320）。运算装置将旋转控制信号输出到旋转装置（330），以使旋转面与透过光的光路垂直的方式对检光部（314）进行旋转控制。运算装置使用在检光部（314）的旋转中由受光部（320）接收被垂直分离部（316）垂直分离后的光而得到的强度，来测定透过被检体（S）的透过光的偏振状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对线偏振光透过被检体后的透过光的偏振状态进行测定的装置等。
技术介绍
通过测定透过物质后的光，能够在不直接接触该物质的情况下，了解物质的状态。例如，公知有被称为旋光性的性质当线偏振光通过葡萄糖那样的光学活性物质时，其偏振面发生旋转。线偏振光是左右圆偏振光的重合。因为与左右圆偏振光分别对应的折射率不同，所以左右圆偏振光在物质内行进的速度产生差异。因此，在通过被检体后的左右圆偏振光中产生相位差，将该左右圆偏振光合成后的光的偏振面发生了旋转。此外，当线偏振光入射到对于左右圆偏振光的吸收率不同的物质(手性物质)时，由于称为圆偏振光二色性(圆二色性)的特性，左右圆偏振光的光振幅(光的大小)发生变化。由于该旋光性和圆偏振光二色性，通过物质后的透过光成为与入射时相比偏振面发生了旋转的椭圆偏振光。例如在专利文献I 3中公开了关注于圆偏振光二色性和旋光性的偏振状态的测定技术。专利文献I :国际公开第2007/029652号公报说明书专利文献2 日本特开2007-93289号公报专利文献3 日本特开2004-340833号公报例如，在专利文献2公开的技术中，使通过液晶元件后的光入射到被检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种偏振状态测定装置，该偏振状态测定装置具备：检光部，其对线偏振光透过被检体后的透过光进行检测并射出；垂直分离部，其对来自所述检光部的出射光进行垂直分离；受光部，其接收由所述垂直分离部进行垂直分离后的光；旋转控制部，其使所述检光部以旋转面与所述透过光的光路垂直的方式旋转；以及偏振状态测定部，其使用在所述检光部的旋转中由所述受光部接收进行所述垂直分离后的光而得到的强度来测定所述透过光的偏振状态。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：山田英明，长石道博，
申请(专利权)人：精工爱普生株式会社，
类型：发明
国别省市：