分析仪器试管及比色皿样本信息读写记忆芯片卡环制造技术

一种分析仪器特别是分光光度计的样本标示用的样本全部信息读写记忆芯片卡环。它由带弹性部分的卡环，内嵌24系列记忆芯片的部分，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分组成。它用于记录单个样本的全部测试信息，如名称，序号，方法，方法参数，以及检测过程数据及检测结果，包括记忆连续时间检测及全频谱扫描的全部数据。它可以重复使用，也可以长期保存测试结果。它克服了条形码信息及文字印刷信息的局限性和缺点。用于存储样本的全部测试信息，包括条形码及文字印刷所不能反映的全部样本检测信息。在分析仪器上用以替代以往传统的样本条形码信息及样本文字印刷信息技术。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及各种分析仪器试管和比色皿的样本信息读写记忆芯片卡环(后简称记忆芯片卡环)，适用于各种分光光度计及分析仪的试管及比色皿的样本全部信息读写存储。技术背景目前，分析类仪器特别是各种分光光度计的样本试管及比色皿的标识信息都是使用条形码，这些条码由打印机打印，再由条码扫描设备读出。由于条形码的信息很有限，最多十余个字母和数字，之后的检测结果也不可以反映于其上。并且，条形码的读出设备对于仪器整体来说造价高，体积大，条码标准也不统一，诸多原因，使得条形码在试管及比色皿 的标识信息上有极大的局限性，特别是在今天的信息时代的技术应用更显得性能落后和缺失。使用更有效率的信息标示技术的存储芯片代替条形码是目前最高性价比的解决方案。
技术实现思路
为了克服现有的试管及比色皿的标识信息都是使用条形码的多方面的缺点和局限性，本技术所专利技术的技术方案是一个卡环带有用于卡在样本试管或比色皿上的弹性部分，内置24系列记忆芯片，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分。本技术的技术方案为解决条形码的使用局限，缺陷及低性能，本技术采用一种分析仪器试管及比色皿样本信息读写记忆芯片卡环，其技术方案是忆芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分析仪器试管及比色皿样本信息读写记忆芯片卡环，其技术特征是：记忆芯片卡环带有用于卡在样本试管或比色皿上的弹性部分，内置24系列记忆芯片，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘可滇，
申请(专利权)人：刘可滇，
类型：实用新型
国别省市：