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一种分析仪器特别是分光光度计的样本标示用的样本全部信息读写记忆芯片卡环。它由带弹性部分的卡环，内嵌24系列记忆芯片的部分，以及记忆芯片读写的I2C总线的外接信号插头部分组成。它用于记录单个样本的全部测试信息，如名称，序号，方法，方法参数，以...
该专利属于刘可滇所有，仅供学习研究参考，未经过刘可滇授权不得商用。

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