一种新型烧录器制造技术

技术编号:8288803 阅读:190 留言:0更新日期:2013-02-01 02:45
本实用新型专利技术提供了一种低成本、高可靠的,具有自动检测芯片取放的新型烧录器。本实用新型专利技术包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控芯片电路电连接,还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接。本实用新型专利技术可应用于芯片制作领域。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种新型烧录器
技术介绍
所有的电子芯片都要经过测试系统分析,所有具有需要编程的芯片(如0ΤΡ、Flash、E2PR0M)都要经编程器写入程序后才具有对应的功能,在这里称之为测试或编程。目前的测试或编程有很大一部分是人工手动的,为了提高生产效率,通常一个手工操作员会同时操作几台测试或编程器。操作员同时操作几台测试或烧录系统时,会存在人为的失误,比如中间某一个单元没有按下启动按键,或者没有取走而导致的其它误操作 等。现有的测试或编程器不能实现取放检测,就无法给操作员提供一个友好的提示界面,也就不能杜绝这种人为的失误。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种低成本、高可靠性的,具有自动检测芯片取放的新型烧录器。本技术所采用的技术方案是本技术包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控芯片电路电连接,还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接。所述芯片取放检测电路由设置在被检查芯片上的检测电路I和设置于所述主控芯片电路上的检测电路II组成,所述检测电路I和所述检测电路II相连。被检查芯片采用非上电方式,依靠其芯片引脚内部电路将检测信号线拉低的方式确定芯片是否放置好。本技术的有益效果是由于本技术包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控芯片电路电连接,还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接,所以,本技术通过所述芯片取放检测电路的设置,通过检测IO 口的电平高低,确定测试芯片是否插入或者是否取出,能方便地检测到插座内是否有测试芯片。由于所述烧录器能够智能判断是否有芯片放入插座内,所以,烧录器可根据这些是否放入的状态智能地进行各种操作,另外,当烧录结束后,烧录器提供一个明显的声光组合指示给操作人员,让操作员准确地知道测试芯片是否插入或者是否取出,方便工作人员的操作和管理,避免出现一些误操作。所述烧录器由于采用的是对芯片内部电路的检测,不依靠外部信号启动,也不给目标上电,因此所述烧录既不会对被检查芯片造成伤害,又能有效地检测到芯片放入,方便地实现了自动烧录,从另一方面,既节约了客户的烧录成本又提高了系统可靠性。附图说明图I是本技术的简易结构连接框图;图2是所述芯片取放检测电路的简易原理图。具体实施方式如图I所示,本实施例中,本技术包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控芯片电路电连接。还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接。·所述芯片取放检测电路由设置在被检查芯片上的检测电路I和设置于所述主控芯片电路上的检测电路II组成,所述检测电路I和所述检测电路II在芯片置入时相连。如图2所示,检测电路I由两个ESD 二极管和一个电阻组成,所述两个ESD 二极管串联后与所述电阻并联,其中一端接地,另一端接电源,此电路存在于被测芯片内部,无需外部重新设计。所述两个ESD 二极管之间通过芯片IO 口与所述检测电路II连接上主控电路的主控芯片的检测IO 口。本技术在工作时,按以下步骤进行主控芯片检测IO设为上拉电阻或者在外部加上合适的上拉电阻;给芯片断电;连续间断地抽样检测10,如果检测到的IO电平持续为高,说明测试芯片插座无芯片或者接触不良;连续间断地抽样检测10,如果检测到的IO电平持续为低,说明测试芯片插座有芯片。本烧录器对芯片进行烧录的过程包括以下主控进行IO初始化;检测芯片是否放入;电压检测;空片检测;烧录芯片;校验数据;检测芯片取出处理。本技术烧录器所具有的芯片检测方法在各种通用的IC座就能实现,且外围电路简单,实现容易。本技术可应用于芯片制作领域。权利要求1.一种新型烧录器,包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控电路电连接,其特征在于还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接。2.根据权利要求I所述的一种新型烧录器,其特征在于所述芯片取放检测电路由设置在被检查芯片上的检测电路I和设置于所述主控芯片电路上的检测电路II组成,所述检测电路I和所述检测电路II相连。3.根据权利要求2所述的一种新型烧录器,其特征在于被检查芯片采用非上电方式,依靠其芯片引脚内部电路将检测信号线拉低的方式确定芯片是否放置好。专利摘要本技术提供了一种低成本、高可靠的,具有自动检测芯片取放的新型烧录器。本技术包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控芯片电路电连接,还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接。本技术可应用于芯片制作领域。文档编号G01R31/28GK202710716SQ20122032547公开日2013年1月30日 申请日期2012年7月6日 优先权日2012年7月6日专利技术者苏龙健, 郑灼荣, 李务柒, 徐景存, 刘境发 申请人:建荣集成电路科技(珠海)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型烧录器,包括壳体,在所述壳体内设置有主控芯片电路、电压检测电路、空片检测电路、烧录电路、外部通信接口及存储单元,在所述壳体上设置有测试芯片插座,所述电压检测电路、所述空片检测电路、所述烧录电路、所述存储单元、所述外部通信接口及所述测试芯片插座均与所述主控电路电连接,其特征在于:还包括芯片取放检测电路,所述芯片取放检测电路与所述主控芯片电路电连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:苏龙健郑灼荣李务柒徐景存刘境发
申请(专利权)人:建荣集成电路科技珠海有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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