高速太赫兹波调制装置及其方法制造方法及图纸

技术编号:8270855 阅读:152 留言:0更新日期:2013-01-31 02:53
本发明专利技术公开了一种高速太赫兹波调制装置及其方法。它包括太赫兹波输入端、激光输入端、太赫兹波输出端、太赫兹波探测器、半圆柱形高阻硅透镜、金属薄膜层和基体;在基体上设有金属薄膜层,金属薄膜层上设有半圆柱形高阻硅透镜,半圆柱形高阻硅透镜下底面为长方形,半圆柱形高阻硅透镜下底面与金属薄膜层相连,太赫兹波从太赫兹波输入端输入,在没有外加激光的条件下,太赫兹波被反射回太赫兹波输出端,太赫兹波输出端相应位置设有太赫兹波探测器。本发明专利技术的高速太赫兹波调制装置具有结构简单紧凑,体积小、制作方便,响应速度快,易于调节,满足在太赫兹波成像、产品检测、太赫兹无线通信系统等领域应用要求。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及太赫兹波应用
,具体涉及一种高速太赫兹波调制装置及其方法
技术介绍
太赫兹波是指频率范围为O. I IOTHz,波长范围为3000 30 μ m内的介于毫米波与红外光之间的电磁波。它是宏观电磁理论向微观量子理论过渡的区域,也是电子学向光子学的过渡区域,有重要的学术和应用研究价值。太赫兹波在电磁波频谱中占有很特殊的位置。但长期以来,由于缺乏有效的太赫兹产生和检测方法,人们对于该波段电磁辐射性质的了解非常有限,以至于该波段被称为电磁波谱中“太赫兹空隙”(Terahertz Gap)。目 前国际上已经成功研制太赫兹波源和检测装置。研究发现太赫兹波作为一种高频电磁波比X射线更安全,应用于医学诊断、安全检查、生物医学、农业、空间天文学、无损检测以及太赫兹通信等许多领域。由于太赫兹波的广泛应用前景,世界各国对于太赫兹波科学技术的研究都极为重视。由于超快光学、半导体、电子学和微加工等技术的发展,太赫兹波的产生和探测技术逐渐成熟,太赫兹技术也逐渐成为世界范围内广泛研究的热点,目前世界上很多国家都积极地开展太赫兹方面的研究,在国内也掀起了太赫兹研究的浪潮。太赫兹波产生和探测技术的发展,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高速太赫兹波调制装置,其特征在于包括太赫兹波输入端(1)、激光输入端(2)、太赫兹波输出端(3)、太赫兹波探测器(4)、半圆柱形高阻硅透镜(5)、金属薄膜层(6)和基体(7);在基体(7)上设有金属薄膜层(6),金属薄膜层(6)上设有半圆柱形高阻硅透镜(5),半圆柱形高阻硅透镜(5)下底面为长方形,半圆柱形高阻硅透镜(5)下底面与金属薄膜层(6)相连,太赫兹波从太赫兹波输入端(1)输入,在没有外加激光的条件下,太赫兹波被反射回太赫兹波输出端(3),太赫兹波输出端(3)相应位置设有太赫兹波探测器(4)。

【技术特征摘要】
1.一种高速太赫兹波调制装置,其特征在于包括太赫兹波输入端(I)、激光输入端(2)、太赫兹波输出端(3)、太赫兹波探测器(4)、半圆柱形高阻硅透镜(5)、金属薄膜层(6)和基体(7);在基体(7)上设有金属薄膜层(6),金属薄膜层(6)上设有半圆柱形高阻硅透镜(5),半圆柱形高阻娃透镜(5)下底面为长方形,半圆柱形高阻娃透镜(5)下底面与金属薄膜层(6)相连,太赫兹波从太赫兹波输入端(I)输入,在没有外加激光的条件下,太赫兹波被反射回太赫兹波输出端(3 ),太赫兹波输出端(3 )相应位置设有太赫兹波探测器(4 )。2.如权利要求I所述的一种高速太赫兹波调制装置,其特征在于所述的太赫兹波输入端(I)输入的太赫兹波的入射角度〃为5° ^85°。3.如权利要求I所述的一种高速太赫兹波调制装置,其特征在于所述的金属薄膜层(6)的材料...

【专利技术属性】
技术研发人员:李九生
申请(专利权)人:中国计量学院
类型:发明
国别省市:

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