一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法技术

本发明专利技术公开一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法,包括以下步骤：1）在LED灯具中选定一颗LED灯珠为被测器件；2）将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路串入电流表，被测器件两侧并入电压表；3）稳定恒温箱中的测试温度并作为起始结温T1；4）开启LED灯具，记录工作电压V1和串电流I1；5）记录处于稳定热平衡状态时的工作电压V2和串电流I2；6）正向电压差⊿Vf=V2-V1；7）结温差⊿t=⊿Vf/K；8）结温值T2=T1+⊿t；9）查阅LED器件光衰曲线，在对应的T2下降曲线与垂直轴70%时的交叉点处获得横轴读数为LED的寿命时间，也是LED灯具光衰70%时的寿命时间。

【技术实现步骤摘要】
本专利技术提出一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法。
技术介绍
LED灯具具有低能耗长寿命的特点，但这需要基于适合其内部LED能稳定工作的特定区域内的温度环境，实际上LED的光衰因素取决于其结温。单颗LED光衰特性测量已经有很成熟的方法，而对于组成LED灯具后整体性光衰测量除了 DOE推荐LmSO方案外，还没有一种既简单实用又快速准确的方法。如果没有测试灯具内LED结温的有效方法，就只能直接测量LED灯具的光强随时间的自然衰减值来判断其寿命，虽然结果可信但费时费力，缺乏商业意义。 基于用LED器件作为光源所生产的灯具，不论其形式结构和工作环境如何，它的可靠性和寿命轨迹始终与LED的实际结温密切相关。LED厂家在研发过程中已采用最有效方法获取了 LED器件在可变温度下的Vf特性，并以此作为LED器件性能指标提供给灯具厂家用于寿命设计参考。因此，排除LED灯具本身失效因素，主要考虑对灯具原始光通量降至70%时的维持时间进行测试。影响LED器件结温的因素多而复杂，目前的科技手段测量灯具内LED结温有许多方法但结果不够准确。
技术实现思路
本专利技术提出一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，通过获本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）LED灯具在正常开启状态下最热区域中选定一颗LED灯珠为被测器件；（2）将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路连线串入恒温箱外的电流表，在被测器件两侧并入恒温箱外的电压表；（3）稳定恒温箱中的测试温度作为起始结温值T1；（4）开启LED灯具，记录此时工作电压V1和串电流I1；（5）记录处于稳定热平衡状态时的工作电压V2和串电流I2；（6）用V2减去V1获得正向电压差⊿Vf；（7）用⊿Vf除以温度系数K，获得结温差⊿t；（8）以起始结温值T1加上结温差⊿t，得出结温值T2；（9）查阅LED器件光衰曲...

【技术特征摘要】
1.一种测量LED灯具整体性光衰特性的方法，其特征在于包括以下步骤 (1)LED灯具在正常开启状态下最热区域中选定一颗LED灯珠为被测器件； (2)将LED灯具放入恒温箱中，断开驱动电源输出与LED列阵之间的回路连线串入恒温箱外的电流表，在被测器件两侧并入恒温箱外的电压表； (3)稳定恒温箱中的测试温度作为起始结温值Tl； (4)开启LED灯具，记录此时工作电压Vl和串电流Il; (5)记录处于稳定热平衡状态时的工作电压...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈炜，杨家伟，吴东，康丽惠，
申请(专利权)人：上海普天邮通科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：