一种检测装置及采用上述检测装置检测圆轴的外径、跳动值、真圆度的方法，包括基部、光学测量部、顶尖部和PC-PLC控制中心；其中基部包括基板和两基板导轨，光学测量部和顶尖部滑动安装在基部上；光学测量部包括光学测量仪导轨和光学测量仪，光学测量仪导轨滑动设于基板导轨上；光学测量仪滑动设于所述光学测量仪导轨上；顶尖部包括顶尖导轨及滑动地设置在顶尖导轨上第一顶尖结构和第二顶尖结构。PC-PLC控制中心控制光学测量部、顶尖部相对基部的运动。通过光学测量仪对待检测圆轴测量，并将测量数据反馈给PC-PLC控制中心，PC-PLC控制中心则可根据所测量数据计算出待检测圆轴的外径、跳动值和真圆度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学检测装置，尤其涉及一种可用于检测轴的外径、跳动值、真圆度等的检测装置及检测方法。
技术介绍
目前，随着工业的高速发展，为避免圆轴类零部件因外径、跳动值、真圆度波动过大在所应用的设备造成磨损或故障，因此，对圆轴部件的检测成为必要。在测量行业，现有技术多利用平行光、扫描平行光束或扩束平行光速照射被测物，对其投影尺寸进行光速扫描遮挡时间的测量，或平行光遮挡位置的测量。然而，这样的测量方式多为半自动方式检 测人员需手持光学测量仪器对圆轴进行测量，并一一记录测量数据，检测效率十分低下。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，提供了一种可快速准确自动检测轴外径、跳动值、真圆度的检测装置。本专利技术是这样实现的，提供一种检测装置，其包括基部、光学测量部、顶尖部和PC-PLC控制中心；所述光学测量部和所述顶尖部滑动地安装在所述基部上；所述PC-PLC控制中心控制所述光学测量部、所述顶尖部相对所述基部的运动；所述基部包括基板和设于所述基板上的两条基板导轨；所述两条基板导轨分别沿其横向延伸，并在纵向上相间设置；所述光学测量部包括光学测量仪导轨和设于所述光学测量仪导轨上的光学测量仪；所述光学测量仪用于对待检测圆轴进行测量，并将测量数据反馈给所述PC-PLC控制中心，所述PC-PLC控制中心根据所述测量数据计算出所述待检测圆轴的检测数据；所述光学测量仪导轨横向滑动设置在所述基板导轨上；所述光学测量仪滑动地设置在所述光学测量仪导轨上；所述顶尖部包括顶尖导轨、第一顶尖结构和第二顶尖结构；所述顶尖导轨沿横向其横向延伸设置在所述基板上，并在纵向上与所述两个基板导轨间隔设置；所述第一顶尖结构沿横向其横向可滑动地设置在所述顶尖导轨的一端；所述第二顶尖结构沿其横向横向可滑动地设置在所述顶尖导轨的另一端。。进一步地，所述顶尖部还包括V型支撑座；所述V型支撑座沿其横向滑动设置在所述顶尖导轨上，并位于所述第一顶尖结构与所述第二顶尖结构之间用于支撑所述待检测圆轴。进一步地，所述第一顶尖结构和所述第二顶尖结构分别包括壳体、气缸导轨、气缸、气缸伸缩杆、顶尖和电机；所述壳体包括底板、基座和固定块；所述底板上设有与所述顶尖导轨相配合的滑槽；所述基座安装在所述底板上并随着所述底板相对于所述顶尖导轨滑动；所述基座上设有开口 ；所述固定块设置在所述底板上；所述气缸导轨设置在所述底板上并沿其横向延伸；所述基座滑动安装在所述气缸导轨上；所述气缸安装在所述基座上；所述气缸伸缩杆的一端位于所述气缸中，所述气缸伸缩杆的另一端延伸到所述气缸的外部并可伸缩穿过所述基座上的所述开口，并通过所述固定块使得所述气缸带动所述基座在所述气缸导轨上沿其横向相对于所述气缸导轨往复滑动；所述顶尖设置在所述基座上，并随着所述基座一同运动；所述电机设置在所述壳体的一侧，驱动所述顶尖转动。进一步地，所述第一顶尖结构的所述固定块位于所述壳体的临近所述第一顶尖结构的所述顶尖的一侧；所述第二顶尖结构的所述固定块位于所述壳体的远离所述第二顶尖结构的所述顶尖的一侧。进一步地，所述顶尖包括形成在其前端的内凹部和可更换地设在所述内凹部中的限位块；所述限位块与所述待检测圆轴配合。进一步地，所述限位块呈圆台形，用以检测实心的圆轴；所述圆台形的限位块上设有内凹槽，所述内凹槽的外圈与所述测实心的圆轴的倒角相配合。进一步地，所述限位块呈圆锥形，用以检测空心的圆轴；所述圆锥形的限位块与所述空心的圆轴的内圈相配合。所述检测装置进一步包括上料机构、下料分拣机构和机械手机构；所述上料机构 抓取所述待检测圆轴，并将检测完的圆轴放置到所述下料分拣机构中；所述PLC-PC控制中心控制所述机械手机构对圆轴的抓取，并控制所述下料分拣机构根据测量、分类结果进行下料和分拣。进一步地，所述机械手机构设置于所述基板上，具有竖直设立于所述基板上之两立柱及架设于两所述立柱上的横梁，机械手部件设于该横梁上，沿所述横梁上设置的导轨滑移。本专利技术还提供了一种采用上述所述检测装置检测圆轴的外径、跳动值、真圆度的方法，其所述光学测量仪根据其发出光线被所述待检测圆轴遮蔽后产生的阴影得到数据，以与光线垂直段圆轴边缘点作切线，得到阴影间距山以圆轴边缘与光线各个切点与光线边缘间距测得间距LI或者L2 ;当所述待检测圆轴旋转至少一周后，所述光学测量仪得到数据(dl，d2，...，dn)、(Lll，...，Lln)或者(L21，…，L2n)，所述PC-PLC控制中心将所述数据记录并进行计算通过对(dl，d2,…，dn)平均值计算所述待检测圆轴的外径值；通过计算(L11,…，Lln)或者(L21，…，L2n)中最大值与最小值之差，得出所述待检测圆轴的一个轴跳动值，通过计算若干轴跳动值，得出所述待检测圆轴的平均跳动值；通过计算(dl，d2,…,dn)中最大值与最小值之差，得出所述待检测圆轴的一个真圆度值，通过计算若干真圆度值，得出所述待检测圆轴的平均真圆度。与现有技术相比，本专利技术的检测装置通过PC-PLC控制中心控制光学测量部、顶尖部相对基部的运动，并且通过调节光学测量仪导轨与基板导轨之间的相对运动以及光学测量仪与光学测量仪导轨之间的相对运动，可将光学测量仪快速准确滴调到合适的测量位置，同时，第一顶尖结构和第二顶尖结构在第一方向上可滑动地设置在顶尖导轨上可快速、方便地加紧或松开待检测圆轴，因此，本专利技术的检测装置可快速准确自动检测轴外径、跳动值、真圆度的检测装置。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图I为本专利技术一实施例中检测装置的示意图。图2为图I中检测装置的主视图。图3为图I中检测装置的俯视图。图4为图I中顶尖部的放大示意图。图5为图4中顶尖部的另一角度的示意图。图6为本专利技术另一实施例中顶尖部的示意图。图7为本专利技术一实施例中顶尖部与圆台形限位块配合的示意图。图8为本专利技术一实施例中顶尖部与圆锥形限位块配合示意图。图9为本专利技术另一实施例中检测装置的示意图。图10为图9中检测装置的另一角度的示意图。图11本专利技术测量圆轴外径、跳动值和真圆度原理示意图。具体实施例方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。图I所示为本专利技术一实施例中检测装置100的示意图。如图I中所示，检测装置100包括基部110、光学测量部120、顶尖部130和PC-PLC控制中心(未图示)。其中，光学测量部120和顶尖部130均设置在基部110上并可相对基部110运动。具体地，基部110可用于安装光学测量部120和顶尖部130。基部110包括基板112和设于基板112上的第一导轨或基板导轨113。基板112具有横向(图示为第一方向Dl)和纵向(图示为第二方向D2)。在图I所示的实施例中，基板112呈矩形，第一方向Dl为基板112的长度方向，第二方向D2为基板112的宽度方向。两条基板导轨113相互平行且间隔的设于基板112上。在图I所示的实施例中，两条基板导轨113本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测装置，其特征在于，其包括基部、光学测量部、顶尖部和PC？PLC控制中心；所述光学测量部和所述顶尖部滑动地安装在所述基部上；所述PC？PLC控制中心控制所述光学测量部、所述顶尖部相对所述基部的运动；所述基部包括基板和设于所述基板上的两条基板导轨；所述两条基板导轨分别沿其横向延伸，并在纵向上相间设置；所述光学测量部包括光学测量仪导轨和设于所述光学测量仪导轨上的光学测量仪；所述光学测量仪用于对待检测圆轴进行测量，并将测量数据反馈给所述PC？PLC控制中心，所述PC？PLC控制中心根据所述测量数据计算出所述待检测圆轴的检测数据；所述光学测量仪导轨横向滑动设置在所述基板导轨上；所述光学测量仪滑动地设置在所述光学测量仪导轨上；所述顶尖部包括顶尖导轨、第一顶尖结构和第二顶尖结构；所述顶尖导轨沿横向其横向延伸设置在所述基板上，并在纵向上与所述两个基板导轨间隔设置；所述第一顶尖结构沿横向其横向可滑动地设置在所述顶尖导轨的一端；所述第二顶尖结构沿其横向横向可滑动地设置在所述顶尖导轨的另一端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郑青焕，
申请(专利权)人：深圳深蓝精机有限公司，
类型：发明
国别省市：
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