平面型光波回路制造技术

技术编号:8257802 阅读:168 留言:0更新日期:2013-01-25 22:30
本实用新型专利技术提供一种平面型光波回路,具有形成于基底上的波导型的光功能回路,所述平面型光波回路的特征在于包括:波导领域,与形成了来自所述光功能回路的出射光得以出射的光波导的出射端面或至所述光功能回路的入射光得以入射的光波导的入射端面的一边相接而仅形成了光波导,仅在形成了所述波导领域的部分的所述基底的底面固定至保持所述平面型光波回路的固定用座架。本实用新型专利技术的一个目的在于提供在集成型光接收机或光发送机中能够同时抑制由温度变化引发的光轴偏差和光功能回路的特性劣化的平面型光波回路。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及与发光元件或受光元件一起集成而构成光收发机的平面型光波回路
技术介绍
随着光通信技术的发展,光学部件的开发变得日益重要。特别是,光收发器的传输速度及反应速度的高速化在被研究,通信容量不断扩大。一般的收发机由用光半导体所制作的发光元件或受光元件和输出用或输入用的光纤构成,它们介由透镜而光耦合。例如,对于光接收器,从输入侧的光纤出射的光通过透镜而成像至受光元件,直接进行检波(强度检波)。转而关注光传输系统中的调制解调处理技术,使用相位调制方式的信号传输被广泛实用化。相移健控(PSK)方式是一种通过调制光的相位来传输信号的方式,通过调制的·多值化,与以往相比传输容量得以飞跃性的扩大。为了接收这样的PSK信号,需要对光的相位进行检波。受光元件能够对信号光的强度进行检波,但是无法对光的相位进行检波。因此,需要将光的相位变换为光强度的手段。关于此,有通过使用光的干涉对相位差进行检波等方法。通过使信号光与其他的光(参考光)相干涉并由受光元件对该干涉光的光强度进行检波,从而能够得到光的相位信息。有使用另外预备的光源来作为参考光的相干检波,以及使信号光自身的一部分偏离以作为参考波再使信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面型光波回路,具有形成于基底上的波导型的光功能回路,所述平面型光波回路的特征在于包括:波导领域,与形成了来自所述光功能回路的出射光得以出射的光波导的出射端面或至所述光功能回路的入射光得以入射的光波导的入射端面的一边相接而仅形成了光波导,仅在形成了所述波导领域的部分的所述基底的底面固定至保持所述平面型光波回路的固定用座架。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:那须悠介笠原亮一小川育生铃木贤哉海老泽文博
申请(专利权)人:日本电信电话株式会社NTT电子股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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