短路试验用多路并联系统均流结构技术方案

技术编号:8236315 阅读:174 留言:0更新日期:2013-01-20 15:35
本实用新型专利技术提供了一种短路试验用多路并联系统均流结构,其特征在于:包括八个分级并联的晶闸管,晶闸管两两反并,分成了四组晶闸管,四组晶闸管之间两两并联,得到两组并联晶闸管,所有晶闸管的进线铜排及出线铜排严格相等,两组并联晶闸管的并联结构两两对称,完全相等。本实用新型专利技术的优点是有效解决了现有短路试验用角度合闸试验装置电流等级的不完善性、普及型差等缺陷,提供了一种具有较佳均流效果的结构。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种短路试验用均流试验装置。
技术介绍
在低压电器产品检测认证中,很多标准的试验条件要求都涉及到试验电流较大的情况,有的是明确提到试验电流的要求,有的是隐含在试验条款的要求中。如GB14048. 2《低压开关设备和控制设备-断路器》8. 3. 2. 2. 4试验电路的功率因数试验中,试验电流有小于 等于3kA,也有大于50kA的情况;8. 3. 5. I中在进行过载脱扣器的动作要求应在2倍电流整定值下载每极上分别进行试验,这就对试验系统中选相控制部分提出了严酷的要求。目前,检测设备主要采用的技术是通过机械式开关控制和电子式控制两种方式。机械式开关控制方式靠人工操作来实现,但传统的机械开关无法任意开通角度和输出波形的控制,对于要求较高的试验系统来说,这已经不可采用;电子式控制方式靠晶闸管可控硅来实现,但是现今的电子式开关存在很大缺陷1、晶闸管的最大耐受电流通常不是很高,一般在5kA以下,不能符合低压电器GB14048. 2标准的要求;2、包括常熟开关厂、施耐德等开关厂断路器的额定极限短路分断能力电流也一般在25kA-100kA ;3、现今申请专利的短路试验系统只能达到20kA的等级。因此,不难看出,现今的选相控制技术的电流等级已经远远不能满足开关电器的要求。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种弥补现有短路试验用角度合闸试验装置电流等级的不完善性、普及型差等缺陷的均流结构。为了达到上述目的,本技术的技术方案是提供了一种短路试验用多路并联系统均流结构,其特征在于包括八个分级并联的晶闸管,晶闸管两两反并,分成了四组晶闸管,四组晶闸管之间两两并联,得到两组并联晶闸管,所有晶闸管的进线铜排及出线铜排严格相等,两组并联晶闸管的并联结构两两对称,完全相等。本技术的优点是有效解决了现有短路试验用角度合闸试验装置电流等级的不完善性、普及型差等缺陷,提供了一种具有较佳均流效果的结构。附图说明图I为实施例中的短路试验用多路并联系统均流结构的电路图。具体实施方式为使本技术更明显易懂,兹以一优选实施例,并配合附图作详细说明如下。如图I所示,为本技术提供的一种短路试验用多路并联系统均流结构系统,包括晶闸管Dl、晶闸管D2、晶闸管D3、晶闸管D4、晶闸管D5、晶闸管D6、晶闸管D7及晶闸管D8,八个晶闸管并联。其中,由并联的晶闸管Dl、晶闸管D2、晶闸管D3及晶闸管D4组成左整流桥臂,由晶闸管D5、晶闸管D6、晶闸管D7及晶闸管D8组成右整流桥臂。整个进出线的桥臂完全等长,所有结成的晶闸管并联对子组合完全对称、无偏差。众所周知,电容器在合闸时可能产生高于运行电流数倍的合闸涌流,其大小与合闸瞬间充电电压的相位有关;同样电感性线路的合闸过程也会产生严重的暂态过程,这样的现实性问题是不容忽视的,在本技术的均流回路结构中,结合选相合闸的优势,很好的解决了这个难题。在试验回路中,回路结构、晶闸管内部结构等的不同,势必会造成各回路阻抗不同,阻抗不同,在并联结构中,各支路的电流就会出现差别,当一条支路的晶闸管承受的电流过大时,超过晶闸管的最大耐受电流,轻则发热过度影响使用寿命,重则导致晶闸管现场 烧坏,由此导致其它支路的电流瞬间上升,极有可能导致所有支路的晶闸管全部烧毁,有可能会威胁人身安全,而本技术的均流技术很好的客服了这项技术难题,做到了每个管子功率基本一致。权利要求1.一种短路试验用多路并联系统均流结构,其特征在于包括八个分级并联的晶闸管,晶闸管两两反并,分成了四组晶闸管,四组晶闸管之间两两并联,得到两组并联晶闸管,所有晶闸管的进线铜排及出线铜排严格相等,两组并联晶闸管的并联结构两两对称,完全相等。专利摘要本技术提供了一种短路试验用多路并联系统均流结构,其特征在于包括八个分级并联的晶闸管,晶闸管两两反并,分成了四组晶闸管,四组晶闸管之间两两并联,得到两组并联晶闸管,所有晶闸管的进线铜排及出线铜排严格相等,两组并联晶闸管的并联结构两两对称,完全相等。本技术的优点是有效解决了现有短路试验用角度合闸试验装置电流等级的不完善性、普及型差等缺陷,提供了一种具有较佳均流效果的结构。文档编号G01R31/00GK202676818SQ20122024779公开日2013年1月16日 申请日期2012年5月29日 优先权日2012年5月29日专利技术者安平, 王爱国, 杜文, 江威, 阮庆洲, 李新强 申请人:上海电器科学研究院, 上海电器科学研究所(集团)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种短路试验用多路并联系统均流结构,其特征在于:包括八个分级并联的晶闸管,晶闸管两两反并,分成了四组晶闸管,四组晶闸管之间两两并联,得到两组并联晶闸管,所有晶闸管的进线铜排及出线铜排严格相等,两组并联晶闸管的并联结构两两对称,完全相等。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:安平王爱国杜文江威阮庆洲李新强
申请(专利权)人:上海电器科学研究院上海电器科学研究所集团有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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