一种数码玻璃厚度仪制造技术

本实用新型专利技术公开一种数码玻璃厚度仪，包括激光器、狭缝、窗口片、衰减片、窄带滤光片、线阵CMOS探测器、单片机、液晶屏；激光器发出的激光从狭缝射出透过窗口片后斜射在被测玻璃上，被测玻璃的各个表面都发生反射光束，反射光束经过窗口片、衰减片、窄带滤光片后投射到线阵COMS探测器上，线阵COMS探测器探测到的光强信号传送给单片机，所述线阵COMS探测器上的光斑距离与被测玻璃厚度和空气层厚度成线性关系，经单片机处理后的被测玻璃和空气层厚度值在液晶屏上显示。本实用新型专利技术利用光学反射原理，在玻璃的单侧表面测量玻璃厚度，尤其适用于通用测量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的测量场合。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种数码玻璃厚度仪，所述数码玻璃厚度仪用于测量单层玻璃，中空玻璃和柱型玻璃管等的厚度。
技术介绍
目前测量玻璃的厚度主要采用刻度尺、卡尺或超声波测厚仪测量，但是对于已经安装的窗户玻璃或其他建筑玻璃卡尺却无法测量。而超声波测厚仪只能测量单层玻璃，对 于中空玻璃却无法测量中间的空气层厚度和第二层玻璃厚度。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种数码玻璃厚度仪，本技术利用光学反射原理，在玻璃的单侧表面测量玻璃厚度，尤其适用于通用测量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的测量场合，如建筑玻璃窗厚度的测量。对于中空玻璃的测量，还可以同时获得两层玻璃及中间空气层的厚度。实现本技术目的的技术方案是一种数码玻璃厚度仪，包括外盒、激光器、狭缝、窗口片、衰减片、窄带滤光片、线阵CMOS探测器、单片机、液晶屏；所述激光器发出一束激光，所述激光与仪器底面呈一夹角，所述狭缝设置在激光器前端，所述激光从狭缝射出透过窗口片后斜射在被测玻璃上，所述被测玻璃的各个表面都发生反射光束，所述反射光束经过窗口片、衰减片、窄带滤光片后投射到线阵COMS探测器上，所述线阵COMS探测器探测到的光强信号传送给单片机，所述线阵COMS探测器上的光斑距离与被测玻璃厚度和空气层厚度成线性关系，经单片机处理后的被测玻璃和空气层厚度值在液晶屏上显示，所述窗口片设置在外盒的背面上，所述液晶屏设置在外盒的正面上。进一步地，所述激光器发出的激光采用650纳米激光；所述窗口片采用红色玻璃，所述红色玻璃对610纳米以上长波段的高透，对610纳米以下短波段阻隔；所述红色玻璃满足对所述激光器发出650纳米激光高透，对610纳米以下外界光阻隔。进一步地，所述窄带滤光片的峰值波长为650纳米，所述窄带滤光片的峰值透过率为50%，所述窄带滤光片的半高宽为25纳米，所述窄带滤光片的入射角为35度，所述窄带滤光片满足650纳米红光高透并且对200纳米-1100纳米的其他波段全阻隔。进一步地，所述衰减片分为第一衰减片、第二衰减片，所述第一衰减片设置在窄带滤光片下面，所述第二衰减片设置在窄带滤光片上面，所述衰减片对反射光束在光路中产生的干扰光线进行吸收。进一步地，所述数码玻璃厚度仪进一步包括查询键、测量键、开关键；所述测量键用于对被测玻璃进行测量，测量数据自动保存到历史记录数据组中；所述查询键用于查询厚度仪存储的历史保持数据；所述开关键用于厚度仪的开机和关机；所述查询键、测量键、开关键分别设置在外盒正面上的液晶屏下端。进一步地，所述数码玻璃厚度仪进一步包括电池安装槽，所述数码玻璃厚度仪采用的电源为四节碱性干电池，所述干电池安装在电池安装槽内。采用本技术的有益效果为I、本技术利用光学反射原理，在玻璃的单侧表面测量玻璃厚度，可以测量通用测量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的测量场合，如建筑玻璃窗厚度的测量。同时，对于中空玻璃的测量，还可以获得两层玻璃及中间空气层的厚度。2、本技术采用线阵CMOS探测器探测光斑位置，信号经单片机处理，厚度值在液晶上显示。与以往人工读标尺的方法相比，具有测量精度高、操作简单，测量快速的优点。 3、光源的方向性好，光斑横截面成一细线，提高了仪器分辨率和测量精度。4、探测器前加一窄带滤光片，解决了外界光的影响，使仪器能满足在户外使用。5、解决了光束的多次反射问题，防止了干扰光斑出现，以免造成光斑误判。6、采集所有界面的反射光斑位置，同时获得两层玻璃及中间空气层的厚度。附图说明图I为本技术的原理示意图；图2为本技术的正面结构示意图；图3为本技术的背面结构示意图；图4为本技术的测量结果数据图。图I、图2、图3中，101-外盒、102-激光器、103-狭缝、104-窗口片、105-第一衰减片、106-第二衰减片、107-窄带滤光片、108-线阵CMOS探测器、109-单片机、110液晶屏、111-被测玻璃、112-激光、113-反射光束、201-查询键、202-测量键、203-开关键、205-电池安装槽。具体实施方式以下结合附图对本技术所提供的数码玻璃厚度仪进一步说明如图I、图2或图3所示，所述数码玻璃厚度仪，包括外盒101、激光器102、狭缝103、窗口片104、衰减片、窄带滤光片107、线阵CMOS探测器108、单片机109、液晶屏110 ;所述激光器102发出一束激光112，所述激光112与仪器底面呈一夹角，所述狭缝103设置在激光器102前端，所述激光112从狭缝103射出透过窗口片104后斜射在被测玻璃111上，所述被测玻璃111的各个表面都发生反射光束113，所述反射光束113经过窗口片104、衰减片、窄带滤光片107后投射到线阵COMS探测器108上，所述线阵COMS探测器108探测到的光强信号传送给单片机109，所述线阵COMS探测器108上的光斑距离与玻璃厚度和空气层厚度成线性关系，所述光强信号经单片机109处理后寻找出光斑位置，由光斑位置计算出光斑距离，再由光斑距离计算出玻璃厚度值和空气层厚度值，所述玻璃厚度值和空气层厚度值在液晶屏110上显示，所述窗口片104设置在外盒101的背面上，所述液晶屏110设置在外盒101的正面上；所述激光器102发出的激光112采用650纳米激光；所述窗口片104采用红色玻璃，所述红色玻璃对610纳米以上长波段高透，对610纳米以下短波段阻隔；所述红色玻璃满足对所述激光器发出650纳米激光高透，对610纳米以下外界光阻隔。所述窄带滤光片107的峰值波长为650纳米，所述窄带滤光片107的峰值透过率为50%，所述窄带滤光片107的半高宽为25纳米，所述窄带滤光片107的入射角为35度，所述窄带滤光片107满足650纳米红光高透并且对200纳米-1100纳米的其他波段全阻隔;所述衰减片分为第一衰减片105、第二衰减片106，所述第一衰减片105设置在窄带滤光片107下面，所述第二衰减片106设置在窄带滤光片107上面，所述衰减片对反射光束113产生的干扰光线进行吸收；所述数码玻璃厚度仪进一步包括查询键201、测量键202、开关键203 ;所述测量键202用于对被测玻璃111进行测量，测量数据自动保存到历史记录数据组中；所述查询键201用于查询厚度仪存储的历史保持数据；所述开关键203用于厚度仪的开机和关机；所述查询键201、测量键202、开关键203分别设置在外盒正面上的液晶屏110下端； 所述数码玻璃厚度仪进一步包括电池安装槽205，所述数码玻璃厚度仪采用的电源为四节碱性干电池，所述干电池安装在电池安装槽205内；所述单片机109根据线阵CMOS探测器108各像素的信号强度判断各光斑的位置，并通过公式计算各层厚度；公式为-M1 = B1I1 ；h2 = a2l2 ；h3 =已山;其中Ii1为第一层玻璃厚度、h2为中间空气层厚度、h3为第二层玻璃厚度，B1为玻璃层校正系数、a2为空气层校正系数，I1为第一个到第二个光斑的距离、I2为第二个光斑到第三个光斑的距离、I3为第三个光斑到第四个光斑距离；最后各层厚度值在液晶屏110上显示。本技术的使用说明书一 结构和参数I.外形尺寸长 130mmX 宽 70mmX 高 28mm2.仪器重量200克3.测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数码玻璃厚度仪，其特征是，包括外盒、激光器、狭缝、窗口片、衰减片、窄带滤光片、线阵CMOS探测器、单片机、液晶屏；所述激光器发出一束激光，所述激光与仪器底面呈一夹角，所述狭缝设置在激光器前端，所述激光从狭缝射出透过窗口片后斜射在被测玻璃上，所述被测玻璃的各个表面都发生反射光束，所述反射光束经过窗口片、衰减片、窄带滤光片后投射到线阵COMS探测器上，所述线阵COMS探测器探测到的光强信号传送给单片机，所述线阵COMS探测器上的光斑距离与被测玻璃厚度和空气层厚度成线性关系，经单片机处理后的被测玻璃和空气层厚度值在液晶屏上显示，所述窗口片设置在外盒的背面上，所述液晶屏设置在外盒的正面上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张有知，
申请(专利权)人：深圳市林上科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：