一种玻镁平板厚度测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种玻镁平板厚度测量仪，包括底座和数显游标卡尺；底座上设有通孔；该通孔与数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与底座底面相垂直。利用本实用新型专利技术厚度测量仪能有效、准确得对玻镁平板厚度进行现场测试。

【技术实现步骤摘要】
201521109946

【技术保护点】
一种玻镁平板厚度测量仪，其特征在于：包括底座和数显游标卡尺；所述底座上设有通孔；所述通孔与所述数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与底座底面相垂直。

【技术特征摘要】
1.一种玻镁平板厚度测量仪，其特征在于：包括底座和数显游标卡尺；所述底座上设有通孔；所述通孔与所述数显游标卡尺的尾部深度杆相匹配，且与底座底面相垂直。
2.根据权利要求1所述的玻镁平板厚度测量仪，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王兴文，孙忠，步晓霞，李成，
申请(专利权)人：江苏万瑞新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32