测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置制造方法及图纸

技术编号:8214233 阅读:225 留言:0更新日期:2013-01-17 07:51
一种测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置,其构成包括连续光纤激光器、光纤隔离器、1×2光纤分束器、双包层光纤放大器、光纤环行器、温度控制系统、单模光纤、2×2端口3dB分束器、带通滤波器、光电探测器、电谱分析仪。本发明专利技术利用液氮对光纤进行温度可控的制冷,并采取光外差探测技术测量光纤中受激布里渊散射增益谱,可提高测量精度。本发明专利技术具有可实现全光纤化,温度可控,结构紧凑,测量精度高的特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤测量,特别是一种用于测量低温条件下光纤受激布里渊散射增益谱的装置,该装置的优点是温度可控,调节简单,结构紧凑,测量精度高。
技术介绍
近些年来,随着光纤传输容量及输出功率日益增大,光纤激光器、光纤放大器、光纤滤波器、光纤传感器等器件设计中,更多地考虑到非线性效应的作用。受激布里渊散射是一种光纤内发生的非常重要的非线性效应,由于其阈值较低,在光纤中极易产生,造成光纤系统中作为信号载体的入射光的能量损耗,并且其后向散射光有可能对光源造成损害,从而限制进入光纤功率及系统的传输距离。目前虽然常温情况下光纤的受激布里渊散射已经得到了广泛的关注,并且其理论得到了很快的发展,但是光纤随温度场变化的受激布里渊 散射的研究比较少;另外由于受激布里渊散射的增益谱很窄,用普通的光谱仪难以精确测 量。光外差探测技术最初用于外差探测,外差体现在两束波长相近的光波入射到光电探测器中,拍频产生射频信号,产生的射频信号幅度由两束光波的场矢量内积决定,频率由两束光之间的频率差决定。光外差探测技术可用于测量高速光探测器频率响应,激光器光谱线宽的精确测试,可调谐激光器调谐特性测量等
技术实现思路
本专利本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种测量低温光纤受激布里渊散射增益谱的装置,特征在于:该装置包括连续光纤激光器(1)、光纤隔离器(2)、1×2光纤分束器(3)、双包层光纤放大器(4)、光纤环行器(5)、温度控制系统(6)、单模光纤(7)、2×2端口3dB分束器(8)、带通滤波器(9)、光电探测器(10)、电谱分析仪(11),上述元部件的连接关系如下:所述的连续光纤激光器(1)的输出端经光纤隔离器(2)与所述1×2光纤分束(3)输入端相连,该1×2光纤分束器(3)将注入的连续光分为两个光束分别经第一输出端和第二输出端输出:第一输出端依次经所述的双包层光纤放大器(4)、光纤环行器(5)与所述的单模光纤(7)的一端相连,该单模光纤...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄文发李学春汪小超王江峰彭宇杰张若凡范兴诺
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:

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