太赫兹时域双光谱检测系统技术方案

太赫兹时域双光谱检测系统，飞秒激光经光阑，1/2波片后，由偏振分束镜分为探测光和泵浦光；探测光依次经过透镜，延迟装置，反射镜，与偏振分束镜二光连接；探测光进入偏振分束镜二后，一束经偏振片进入到透射光检测装置A，另一束光经另一偏振片进入到反射光检测装置B；然后与各自的硅片、抛物镜面四光连接；泵浦光通过光电导天线太赫兹发射器辐射太赫兹波，然后被抛物面镜一和抛物面镜二收集汇聚到样品上，透射光与透射光检测装置A中的抛物面镜三光连接，反射光与反射光检测装置B中的抛物面镜三光连接；透射和反射的太赫兹信号分别与探测光共线送达各自的电光晶体，并由差分探测器接收，输出的差分电流信号分别连接锁相放大器和计算机。本实用新型专利技术太赫兹时域双光谱可同时检测透射光谱和反射光谱。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种太赫兹时域双光谱检测系统，可以同时检测透射和反射时域光谱。技术背景太赫兹频段是指频率从O. ITHz到IOTHz的电磁辐射区域。太赫兹辐射由于具有瞬态性，低能性和相干性等独特的性质，在卫星通讯，无损检测，军用雷达，医疗卫生等方面具有重大的科学价值和广阔的应用前景。太赫兹光谱技术是太赫兹辐射实用研究的一个重要领域，这种技术具有高的探测信噪比和较宽的探测带宽，可广泛用于物质特征谱的探测，尤其对于毒品和爆炸物的光谱研究具有非常实际的应用前景。目前在国内外采用的太赫兹时域光谱检测系统，基本上分为透射型和反射型两种工作模式，各自相互独立，每次测量都只能选择一个模式来测量，因此，这样的检测系统不能很好的满足实际的需求；同时在实验中想要得到透射谱和反射谱时，往往要用不同模式的系统来测量两次，这样不仅费时，且实验的可靠性也会降低。
技术实现思路
本技术公开了一种太赫兹时域双光谱检测系统，可以在同一模式系统中同时检测透射和反射时域光谱，克服现有技术只能采用一种模式独立测试，导致测试结果可靠性差且费时的弊端。一种太赫兹时域双光谱检测系统，由飞秒激光器发出飞秒激光，经光阑，1/2波片后，由偏振本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种太赫兹时域双光谱检测系统，由飞秒激光器（1）发出飞秒激光，经光阑（2），1/2波片（3）后，由偏振分束镜（4）分为探测光和泵浦光；探测光依次经过透镜（12），延迟装置（13），反射镜（14），与偏振分束镜二（15）光连接；泵浦光经光电导天线太赫兹发射器（9）辐射太赫兹波，被抛物面镜一（10），被抛物面镜二（11）收集汇聚到样品（25）；其特征在于：A)探测光进入偏振分束镜二（15）后，一束经偏振片（16）进入到透射光检测装置A，另一束光经另一偏振片（16）进入到反射光检测装置B；然后与各自的硅片（17）、抛物面镜四（24）光连接；B)泵浦光被抛物面镜二（11）收集汇聚到样品后，透射光与透射...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林鹏飞，秦汉，黄猛，陈术，胡志威，
申请(专利权)人：上海理工大学，
类型：实用新型
国别省市：