测试机台制造技术

本实用新型专利技术公开一种测试机台，用以对一芯片进行测试，该测试机台包括：一基座、一支撑架、一可动平台、一屏蔽装置及一台座单元。支撑架设置于基座上。可动平台通过支撑架位移。一屏蔽装置包括：一第一壳体以及一第二壳体。第一壳体设置于基座上，且第二壳体设置于可动平台上。台座单元承接于屏蔽装置中，用以承载芯片。其中可动平台的位移可使得第一壳体与第二壳体处于一开状态或一合状态，且其中，根据开状态或合状态，测试基台提供芯片一测试环境。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试机台，特别是涉及一种用于测试一芯片射频频率的测试机台。
技术介绍
通讯芯片制造完成后，需进行信号测试。请参见图1，在现有技术中，测试治具10通常包括一上盖11、一下盖13、一连杆15及一把手17。上盖11与下盖13通过侧边相互枢接，连杆15连结于上盖11与下盖13之间，其中连杆15包括一减压件，以支撑上盖11，使其不致关闭。在使用时，使用者利用把手17掀起上盖11，放置芯片于测试治具10当中。接着，使用者以手动的方式密封上盖11与下盖13，并输入信号对芯片进行测试。然而，上述测试治具10体积庞大、且重量较重，导致操作不易。当大量芯片欲进行 测试时，将耗时许久，不符经济考量。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的在于提供一种易于操作的机片测试机台。为达上述目的本技术提供一种测试机台，用以对一芯片进行测试，该测试机台包括一基座、一支撑架、一可动平台、一屏蔽装置及一台座单元。支撑架设置于基座上。可动平台通过支撑架位移。一屏蔽装置包括一第一壳体以及一第二壳体。第一壳体设置于基座上，且第二壳体设置于可动平台上。台座单元承接于屏蔽装置中，用以承载芯片。其中可动平台的位移可使得第一壳体本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试机台，用以对一芯片进行测试，其特征在于，该测试机台包括：基座；支撑架，设置于该基座上；可动平台，通过该支撑架位移；屏蔽装置，包括：第一壳体，设置于该基座上；第二壳体，设置于该可动平台上；以及台座单元，承接于该屏蔽装置之中，用以承载该芯片；其中该可动平台的位移可使得该第一壳体与该第二壳体处于一开状态或一合状态，且其中，根据该开状态或该合状态，该测试基台提供该芯片一测试环境。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：李新蔚，
申请(专利权)人：立积电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：